如何用Tetramax分析功能测试向量的故障覆盖率

windwarrior · 发表于 2012-12-25 20:16:46

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由于芯片中没有加入扫描链，CP测试时只能用功能测试的策略。由于芯片的设计是基于8051架构的（有一个8051的CPU），所谓的功能测试向量，也就是用8051程序，通过执行程序，调动周边的数字模块工作。这种测试向量与ATPG差别很大，用Tetramax该如何分析其故障覆盖率？

wobuhuiwngmima · 发表于 2014-7-31 08:51:31

tong qiu

zrzf23 · 发表于 2014-8-3 22:09:36

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