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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › MEMS(微机电系统) › MEMS资料区 › mems测试看过的资料，
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[资料] mems测试看过的资料，

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公害
发表于 2012-11-12 13:25:43 | 显示全部楼层 |阅读模式

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Improved 1f noise measurements for microwave.pdf (1.06 MB, 下载次数: 91 )
测试, 资料

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fashion612
发表于 2013-5-20 10:41:24 | 显示全部楼层
顶一下
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robin0338
发表于 2013-6-1 10:29:02 | 显示全部楼层
感謝分享!
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ralphtw
发表于 2014-11-21 17:34:46 | 显示全部楼层
Improved 1f noise measurements for microwave
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optoelectronic
发表于 2015-6-4 23:49:32 | 显示全部楼层
感谢公害 楼主分享
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微木
发表于 2015-10-20 09:03:36 | 显示全部楼层
正好需要，谢谢楼主
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zzq81
发表于 2018-12-2 21:10:29 | 显示全部楼层
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西交后端
发表于 2018-12-10 16:58:18 | 显示全部楼层
正好需要，谢谢楼主
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Billmtk
发表于 2023-1-12 15:49:30 | 显示全部楼层
good data for us
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