ATPG中到底什么是parallel pattern,serial pattern 和scan test pattern

xlt9999 · 发表于 2012-6-15 16:32:51

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求大神帮忙！这个问题一直困惑着我！！

miller627 · 发表于 2012-8-4 00:35:28

pp是并行仿真，ss是串行仿真。。。ss是用过shift将仿真值移入寄存器类似于scan的正常工作，但是仿真速度效率低，pp是利用的软件的优点，直接把要移入scan的值直接force到reg上面，只需要一个周期，就能到达shift的效果，，效率比较高。你最后一个pattern没见过。。。。不知道是怎么生成的

synopsys83 · 发表于 2012-8-8 11:08:12

ATPG生成的pattern有两类，scan test pattern和chain test pattern，serial scan pattern已近包含chain test pattern了，ATE上run的是serial scan pattern，如果出现fail，需要拿chain test pattern来debug，判断是不是scan chain的问题。