ATPG中到底什么是parallel pattern,serial pattern 和scan test pattern

xlt9999 · 发表于 2012-6-15 16:32:51

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求大神帮忙！这个问题一直困惑着我！！

miller627 · 发表于 2012-8-4 00:35:28

pp是并行仿真，ss是串行仿真。。。ss是用过shift将仿真值移入寄存器类似于scan的正常工作，但是仿真速度效率低，pp是利用的软件的优点，直接把要移入scan的值直接force到reg上面，只需要一个周期，就能到达shift的效果，，效率比较高。你最后一个pattern没见过。。。。不知道是怎么生成的

synopsys83 · 发表于 2012-8-8 11:08:12

ATPG生成的pattern有两类，scan test pattern和chain test pattern，serial scan pattern已近包含chain test pattern了，ATE上run的是serial scan pattern，如果出现fail，需要拿chain test pattern来debug，判断是不是scan chain的问题。

wb312_0 · 发表于 2012-10-19 17:22:53

学习了，多谢各位！

Syn2012 · 发表于 2012-11-22 00:14:00

学习了，以前都没听过chain test pattern和scan test pattern 。

goxdl · 发表于 2016-10-26 20:19:34

scan test/scan chain

gxlaiymm · 发表于 2017-1-12 17:43:07

学习了，谢谢

风信子yiyi · 发表于 2017-1-15 21:04:50

并行pattern移入的方式理解，就是移出并且判断正确与否不懂

14052011 · 发表于 2018-8-20 18:25:08

回复 3# synopsys83

scan_serial and chain serial 是不是 pattern内容不一样？为什么 chain serial test可以用来debug? 求大神指教，谢谢~

sywang33 · 发表于 2020-7-25 21:24:06

chain serial test 可以用來測試 scan shift的動作是否正確 ... 如果確了那問題應該是出現在scan capture

[求助] ATPG中到底什么是parallel pattern,serial pattern 和scan test pattern

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