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[求助] CP,FT测试流程,SOC

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发表于 2012-1-31 10:45:03 | 显示全部楼层 |阅读模式

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哪位高手能提供一个SOC产品的典型测试流程?
发表于 2012-2-1 08:41:29 | 显示全部楼层
还以为有资料呢!
发表于 2012-2-10 21:54:07 | 显示全部楼层
大概了解一点点。
首先你的SOC产片在设计的时候就要有test模式,具体什么地方需要自己把握。
等产品的wafer从代工厂拿到之后,你要将所有的CP测试程序编好,然后还需要转换为CP测试机台兼容的程序,剩下的就是你和测试公司沟通,告诉他们如何判断测试中的芯片是正确的,其余的全部打点作废。
发表于 2012-2-11 10:56:35 | 显示全部楼层
谢谢 分享
发表于 2012-3-11 17:29:20 | 显示全部楼层
大概了解一点点
发表于 2018-12-23 16:17:35 | 显示全部楼层
发表于 2021-1-20 10:51:15 | 显示全部楼层
物料,没有文档,感觉被骗了
发表于 2022-11-22 10:26:59 | 显示全部楼层


darkduck 发表于 2012-2-10 21:54
大概了解一点点。
首先你的SOC产片在设计的时候就要有test模式,具体什么地方需要自己把握。
等产品的wafe ...


请问测试流程中的CP/FT/SLT分别代表什么测试阶段?谢谢。
发表于 2023-2-14 15:03:06 | 显示全部楼层
发表于 2023-2-15 10:06:10 | 显示全部楼层


海阔天空——飞 发表于 2022-11-22 10:26
请问测试流程中的CP/FT/SLT分别代表什么测试阶段?谢谢。


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