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[讨论] AVTH随着栅氧厚度的增加而按比例减小

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发表于 2011-7-14 14:00:53 | 显示全部楼层 |阅读模式

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有趣的是,已经观察到,AVTH随着栅氧厚度的增加而按比例减小。

???

这个是我在Razavi的“模拟CMOS集成电路设计”中文版的P378(第13章不匹配章节)上看到的,应该是翻译错了吧?
 楼主| 发表于 2011-7-15 16:46:32 | 显示全部楼层
呵呵 没有人对mismatch的问题感兴趣吗?
发表于 2013-7-26 08:51:24 | 显示全部楼层
的确是中文翻译错了,原文是
Avth has been observed to scale down with the gate oxide thickness
发表于 2021-6-28 22:44:19 | 显示全部楼层
AVth是什么意思
发表于 2021-6-29 11:38:01 | 显示全部楼层
PDK document里面有针对不同阈值MOS管AVTH的偏差问题,可以看见Vth越高的器件,一般AVTH也越大
发表于 2021-11-17 09:31:05 | 显示全部楼层


guardian_qq 发表于 2013-7-26 08:51
的确是中文翻译错了,原文是
Avth has been observed to scale down with the gate oxide thickness ...


那这句话该怎么翻译?
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