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原帖由 fuyibin 于 2009-9-22 20:32 发表 登录/注册后可看大图 我想你也是说的latch-up test,因为通常在片内,用MOS管做miller compensation,source/drain 随便接到哪一端都不会有latch-up的,只要substrate接好就OK了,在见到I/O的device处理上,就按照通常的防latch-u ...
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