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请问如何分析该电路的稳定性?

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发表于 2009-6-11 22:45:01 | 显示全部楼层 |阅读模式

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a.bmp
我现在正在做该电路的环路分析,最终要能得出各个参数是怎样影响环路的,现在发现传递函数很难求出来,请问各位有没有什么好的方法?
发表于 2009-6-13 15:18:27 | 显示全部楼层
先说说一般思路

1先确定好 静态工作点
2 在静态工作点的基础上,推导小信号传输函数
3 小信号传输函数推导时,需要在合适的地方将环路断开
发表于 2009-6-13 15:29:10 | 显示全部楼层
a.bmp

静态分析 ,发现Q1必然截止,
断开环路如上所示,
那么环路的传输是从 A—— B , B——C,
一级一级写出来,相乘,就得到环路的传输函数了,
还有需要注意的就是电阻电容的负载效应
发表于 2009-6-13 17:46:19 | 显示全部楼层
典型的LDO,线性电路,可以断开环路,送入AC=1的激励,用SPICE仿真得出LOOP GAIN.
·当然,治本的办法还是推出系统环路传输函数,要能写出误差放大器和MOSFET的小信传输函数。
发表于 2009-6-18 22:20:54 | 显示全部楼层
推導出轉移函數,再用NQ準則即可求出閉迴路下是否穩定,如果極點在右半平面,系統則不穩定
发表于 2009-6-27 13:45:37 | 显示全部楼层
环路中任找一点断开
如A点断开变成A1, A2方向是A1-->A2
在A1,A2之间串很大的电感,
在A2与另外(自己定义一点如VAC)一点之间串很大的电容,
在VAC与GND之间加AC=1,DC=0的AC源仿真
这样DC工作点也有,也可以跑仿真
发表于 2009-7-12 11:01:48 | 显示全部楼层
在实际电路设计制作中,最有用的就是测试开环幅度特性,再假定为最小相移函数(通常都不失实)。按照BODE的实部虚部关系,求出相位特性。再根据稳定裕量要求,作出相应的校正函数,再用分析或综合法得到校正元件,最后再实际测试一次开环幅度特性即可。
发表于 2009-7-12 19:30:37 | 显示全部楼层
它(LDO)的稳定性和负载很有关系。除了mosfet和负载,其余部分的transfer function:

H1=(1/jwCR2)*(R5/(R1+R5))

如果在C3上并联一个R_load,mos里就有了直流电流,那里就多了一个分压项,

H2=(1/jw(C2+C3)+Rload)/(1/jw(C2+C3)+Rload+1/gm)
gm由Id决定,Id=(R4/(R3+R4))*Vcc/Rload

这里忽略了R2中的AC采样电流,它应该远小于Rload里的电流。

在Rload —〉 inf 时,Id —〉0,H2 —〉1,系统稳定。(在Rload=0时,这个transfer function有点奇怪,因为mos截止,只有半边。)

当Rload为有限值时,会有第二个pole,就可以看crossover、phase margin了。

如有不妥,请批评指正。

发表于 2009-9-1 10:37:30 | 显示全部楼层


原帖由 shixiaowu 于 2009-6-11 22:45 发表 174738 我现在正在做该电路的环路分析,最终要能得出各个参数是怎样影响环路的,现在发现传递函数很难求出来,请问各位有没有什么好的方法?


这个架构太难补偿了,很难拉开距离和有效控制fc。
发表于 2009-9-2 14:28:22 | 显示全部楼层
学习了,谢谢
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