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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › 芯片验证测试及失效分析
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楼主: liudc

芯片验证测试及失效分析

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axz666axz666
发表于 2011-5-29 00:12:40 | 显示全部楼层
多谢分析!
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zhouyunye195
发表于 2011-5-31 20:29:22 | 显示全部楼层
谢谢分享！
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rotings
发表于 2011-7-6 16:16:26 | 显示全部楼层
thanks for sharing
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my19762001
发表于 2012-5-8 12:25:20 | 显示全部楼层
回复 1# liudc
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tiantianxch
发表于 2013-12-24 12:58:53 | 显示全部楼层
一篇论文，有效价值少~
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namixiaoxin
发表于 2014-1-4 01:54:09 | 显示全部楼层
信息技术快报杂志上的文章，个人认为参考意义有限
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汉江之源
发表于 2014-1-22 22:08:29 | 显示全部楼层
下载看看，学习
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汉江之源
发表于 2014-1-22 22:10:27 | 显示全部楼层
有点太科幻了····
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jimcmwang
发表于 2014-3-17 13:26:22 | 显示全部楼层
谢谢分享　～｀｀｀
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chriszbx
发表于 2017-6-10 08:09:46 | 显示全部楼层
多谢分享
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