在线咨询
eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
切换到宽版

EETOP 创芯网论坛 (原名:电子顶级开发网)

手机号码,快捷登录

手机号码,快捷登录

找回密码

  登录   注册  

快捷导航
搜帖子
查看: 375|回复: 0

[原创] LKT4304芯片对比认证方案

[复制链接]
发表于 2024-8-1 09:28:42 | 显示全部楼层 |阅读模式

马上注册,结交更多好友,享用更多功能,让你轻松玩转社区。

您需要 登录 才可以下载或查看,没有账号?注册

x
对比案应用模式固定,调试简单,MCU主控端只需要移植对称加密算法和简单的加密操作即可,不需对主控MCU端原有程序做大的改动。同时也不需要用户了解加密芯片内部运行流程,因此调试周期短,研发投入小。凌科芯安公司提供相应的Demo例程,用户直接移植即可使用。
对比认证方案实现的步骤如下:
l 主控MCU与加密芯片端分别预置安全密钥Key1Key2(相同的3DES密钥)
l MCU与加密芯片端预置相同的初始向量Iv(8字节)
l MCU端发送附带16字节随机数Rand1(密文传送)指令,请求加密芯片产生挑战数据
l 加密芯片端使用Key2解密指令数据得到Rand1
l 加密芯片端产生16字节随机数Rand2
l 计算D1D1 = (Rand1 ^ Rand2)
l 生成挑战数据D, D= D1 || Rand2
l 计算密文CC =3DES_EncCBC(Ivkey2, D)。并将C返回给MCU  
l MCU端解密密文C3DES_DecCBC(Ivkey1, C),截取Rand2
l MCU端计算D1’,  D1= (Rand1 ^ Rand2)
l 如果 D== D 则认证成功,否则认证失败
对比认证流程如如下所示:
图片1.png

您需要登录后才可以回帖 登录 | 注册

本版积分规则

关闭

站长推荐 上一条 /2 下一条

×

小黑屋| 手机版| 关于我们| 联系我们| 在线咨询| 隐私声明| EETOP 创芯网
( 京ICP备:10050787号 京公网安备:11010502037710 )

GMT+8, 2024-11-21 20:38 , Processed in 0.015611 second(s), 8 queries , Gzip On, Redis On.

eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
快速回复 返回顶部 返回列表