pad复用问题

fangwang85

请教个问题，设计中加入mibst和scan ，occ 。那么哪些pad可以复用func 的pad呢？
我自己的理解是
1） test_mode  , scan-enable , pll_reset , pll_bypass , scan compress enable.这些需要专门的pad。不能复用
2）TDI TDO TMS TRST TCK 等mbist mode jtage 5个pad 可以复用func pad。
不知道理解的对不对？谢谢

wsmysyn

调dft pattern的时候, 你说那个那些信号, 好像除了testmode是单独的pad, 其他都是可以和其他function pad复用的, 客户看到的是PA PB PC PD, 我们看到的都是dft的各种pin...

fangwang85

wsmysyn 发表于 2023-12-5 15:34
调dft pattern的时候, 你说那个那些信号, 好像除了testmode是单独的pad, 其他都是可以和其他function pad复 ...

谢谢回复， 我自己的理解，比如scan-enable ， func mode的时候需要将这pad拉高为1。不能动。 这种情况就无法复用func的pad。

这个怎么解决的呢？谢谢了

hamandu

一般来讲，testmode信号不能和function复用，比如testmode管脚为0，是function mode，为1则进入testmode，testmode中可以通过其他管脚来确定是scan mode、mbist mode、bsd mode等等。
除了testmode外，其他的应该都可以复用。

如果通过一些特殊的设计技巧，也可以把testmode和function管脚复用的，不过稍微复杂一些而已

wsmysyn

fangwang85 发表于 2023-12-5 15:39
谢谢回复， 我自己的理解，比如scan-enable ， func mode的时候需要将这pad拉高为1。不能动。 这种情况就 ...

设计这边不太清楚
我这边调机台dft pattern的时候, 我们的设计做法是test mode 拉高的时候, 其他数字pad就是dft的功能, 比如scan enable, scan clk, shift in/out之类的
test mode默认内部下拉, 其他数字pad就是正常function功能,

fangwang85

hamandu 发表于 2023-12-5 15:50
一般来讲，testmode信号不能和function复用，比如testmode管脚为0，是function mode，为1则进入testmode，t ...

谢谢回复，再请教下 ，在func mode的时候，需要将TMS  TDI TDO TRST TCK 这5个端口全部tie 成0 ，以保证func mode正常工作吗？   芯片func mode下不需要jtage 5个端口来控制电路。

蕾兹曼

fangwang85 发表于 2024-4-1 18:49
谢谢回复，再请教下 ，在func mode的时候，需要将TMS  TDI TDO TRST TCK 这5个端口全部tie 成0 ，以保证f ...

test_mode这个port为一的情况下进测试，一旦test_mode为0，那么别的port无论如何也不会进到测试模式，也就是说除非你的SE使能跟test_mode无关，不然celll不会选到TI作为D

zymthb

你这里把ijtag和其他dft端口弄混。是否插入ijtag,可以决定能否复用的端口有很大关系

fangwang85

zymthb 发表于 2024-4-30 14:15
你这里把ijtag和其他dft端口弄混。是否插入ijtag,可以决定能否复用的端口有很大关系 ...

谢谢回复，再请教您一个问题， t m ax 推的transition fault的前仿真，比值的地方是，2 拍caputre之后，下一个shift clock来之前5ns。 可这个地方同时也是工具force SI的地方，经常有些cell会报expr=1 ， got=0 的错误，仿真用的 v c s 。这个有办法解吗？谢谢了

zhh124

test mode默认内部下拉，这个怎么实现，一般pad配置成output 模式才有上拉下拉配置吧，另外其他DFT用到的pad，输入输出模式怎么配置，也是通过testmode 再加mux 等逻辑来实现吗？