在线咨询
eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
切换到宽版

EETOP 创芯网论坛 (原名:电子顶级开发网)

手机号码,快捷登录

手机号码,快捷登录

找回密码

  登录   注册  

快捷导航
搜帖子
查看: 1873|回复: 3

[讨论] 通用芯片测试系统的开发

[复制链接]
发表于 2016-8-14 17:10:09 | 显示全部楼层 |阅读模式

马上注册,结交更多好友,享用更多功能,让你轻松玩转社区。

您需要 登录 才可以下载或查看,没有账号?注册

x
最近在接手一个项目,是给一家小公司开发芯片测试系统,先前的dos系统下单一功能的测试系统需要换代了。了解到论坛好多牛人,前来与大师们讨论,废话不多说。
首先我们要完成测试芯片的封装主要是DIP,sop的,模拟、数字以及混合的都可能测试;
听说现在市场上可以买到成品的测试仪,就是不到上位机界面的,其他的硬件平台都已经搭建好的那种,但是没有找到。



我本人是一个二年级的研究生,也是本着学习的心态,大家讨论起来吧。
 楼主| 发表于 2016-8-14 18:35:01 | 显示全部楼层
怎么没人呢?
 楼主| 发表于 2016-8-14 21:04:21 | 显示全部楼层
大神在哪呢?
发表于 2016-8-17 07:08:45 | 显示全部楼层
回复 1# 齐鲁小痞子


   这个坛子里验证的人比较多吧,你这个是芯片的板级测试,不属于验证的范畴,所以没什么人回答。测试也分功能和DFT的扫描,不知道你要测哪个,如果是要测功能的,还得看是啥功能,你没有说明是什么样功能的芯片,没人知道你要测试什么,有时就是知道功能,没搞过的话都无法回答这个的问题,何况不知道功能了。要是测dft的,可以找找ATE厂商。
您需要登录后才可以回帖 登录 | 注册

本版积分规则

关闭

站长推荐 上一条 /2 下一条

小黑屋| 手机版| 关于我们| 联系我们| 在线咨询| 隐私声明| EETOP 创芯网
( 京ICP备:10050787号 京公网安备:11010502037710 )

GMT+8, 2024-9-21 19:55 , Processed in 0.017331 second(s), 12 queries , Gzip On, Redis On.

eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
快速回复 返回顶部 返回列表