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各位亲们：
先说说设计的基本情况：
芯片会先输入一段password进TMU模块（test mode unit)，密码对上后TMU会送出一个信号给mbist(test_h),即进入mbist mode，然后开始自测试。
现在的问题是:
在生成verilog之前，我强制在CHIP netlist里把mbist的模式标志位（test_h)拉高来进入mbist mode的，所以生成出来的verilog就只有进模式之后的那段pattern。现在想把送password进模式的那段行为和进模式之后的自测试行为合二为一来生成pattern，不知道怎么来弄？
我用的工具是mbistarchitect,试了下load procedure file这个命令（想加入test_setup proc)，没有作用
想请大家帮帮忙，谢谢！ |
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发表于 2016-3-31 18:20:14
楼主