DFT 问题

liangyefeng · 发表于 2011-12-9 15:50:04

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我想问下为什么在DFT用一个function_clock一个test_clock，做作DFT时用fuction_clock不可以吗？

liangyefeng · 发表于 2011-12-9 15:55:10

就是我们这里做DFT时候用单独的clock和function_clock用一个选择器连接起来。然后用scan-test选择，我不知道这样有什么好处

liqiang998 · 发表于 2011-12-9 16:31:19

回复 2# liangyefeng

function clock不能测试到所有的FF，影响 fault-coverage

liangyefeng · 发表于 2011-12-9 16:37:48

回复 3# liqiang998

FF不都是clk沿触发的吗？还有不能测试到的吗？而且test_clock 和function_clock在选择器之后的路径都是一样的阿！这样还存在测试不到的吗？
能说的更明白些吗？

bingling512 · 发表于 2011-12-9 17:14:07

如果function时钟是端口直接输入那肯定就没必要选择。
如果是片内时钟，比如PLL的输出。那你可以想一想scan的整个过程是怎么完成的，如果用功能时钟ATE知道这个时钟的状态吗，能计算这个时钟引起的电路状态变化吗？
比如要完成shift，用function时钟能把ATE给的值移到期望的寄存器吗？

kevinht · 发表于 2011-12-9 23:13:50

回复 1# liangyefeng

除非很单一的同步时钟设计，很多情况下function clock是不满足test clock条件的。
比如有的设计是用时钟下沿打寄存器，不满足DFT test clock的。又如有的设计用了分频时钟（寄存器Q端输出）作局部时钟，也不满足DFT test clock等等还有不少情况。这些case都需要用到你说的mux在test mode下面把function clock在寄存器ck端替换成test clock。

javasun · 发表于 2012-1-11 15:28:33

学习了

hzdzkjly · 发表于 2014-1-22 16:45:48

学习了

zhangjirong · 发表于 2014-1-23 10:38:25

回复 5# bingling512

照你这么说的话，是不是clk port，需要增加mux，选择system_clock还是dft_clock，是这样吗？求指教。

Simon0827 · 发表于 2015-1-20 17:16:06

function clk架構過於複雜，很難完成scan chain shift
ATE也難以控制function clk，除非function clk用ATE外灌

[求助] DFT 问题

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