M0 系列MCU wafer 功能测试原理

wrhwindboy

各位大哥，M0系列的MCU的Wafer 测试的时候程序一般是下载到SRAM进行再进行测试模式的测试吗？如果下载到SRAM，是通过SWD下载吗？还是通过其他什么IP模块下载？

如果是通过SWD下载，由于SWD的clock和我们测试时的系统时钟一般是异步的，swd时钟要比系统时钟慢。
那问题就来了，在测试机台上，如果测试pattern里面有pin脚状态的比较，由于异步会造成比较出错，
不知道怎么处理，非常疑惑。
还希望大神给解答。

lovelaner

所有的测试都是基于datasheet的， 我相信你的datasheet 没有规定某个register输出有多少delay到mcu的IO PIN. 也就是说没有规定一定是同步的。所以，在一定时间范围内寄存器到IO的delay不完全相同是允许的。
另一方面，每一个MCU 处于不同的工艺CORNER，他们输出的快慢也是不一致的。
有些片子你很快就可以在IO 检测，有些片子需要更长时间。
这里就牵涉到TEST PATTERN的margin问题。
一般做法是做corner sample evaluation 让FF FS SS SF 都能通过你的测试。
这样你的test margin就是最好的。

lovelaner

再补充回答一下你的第一个问题：通常function test MCU 都会用IN RAM TEST， 就是你说的下载到SRAM 从SRAM 执行测试程序。
SWD 可以做，但速率慢。 一般的MCU 设计者都会设计一个TUNIT，从IO直接写入SRAM.
如果量不大 SWD也无所谓，量大SWD 浪费的时间就多，测试时间很重要，直接影响你的测试成本。

wrhwindboy

回复 3# lovelaner

谢谢，您的回答。您说的tunit 下载到sram，就是好比jtag，spi ，接口然后转换到ahb总线，然后驱动sram对吧？或者不用转换成ahb总线，直接控制sram的接口来实现数据写入就可以了对吧？等写完后就把sram控制转入CPU，然后释放CPU的Reset，让他从sram读code？

lovelaner

回复 4# wrhwindboy


  先给信元 再回答问题  

wrhwindboy

回复 5# lovelaner


   在哪个地方点转信元？

charlie_zhang

我做过这个东西

wrhwindboy

回复 7# charlie_zhang


   求指导。给点建议啊

lovelaner

回复 4# wrhwindboy


   Tunit 可以直接把数据并行的输入到RAM的端口。通常MCU 有两种工作模式， 正常模式和测试模式， 在测试模式下你的GPIO 可以remapping为RAM的数据口。这样就可以并行的输入数据节省测试时间。   MCU 有个寄存器专门存放reset vector, 你正常模式和测试模式的reset vector 是不同的。测试模式 reset vector所指向的地址是RAM的起始地址。

wrhwindboy

回复 9# lovelaner


   如果采用并行的方式，那不是会占用很多的测试引脚？