如何提高DFT覆盖率

roger452

用DC来做扫描链综合的时候，得出来得覆盖率只有78.8%，怎么去提高覆盖率啊？

是通过插入测试点还是其他什么方式吗？

ustc12

插入测试点是一个方法，但是不是什么好方法，为了覆盖率而加测试点，代价就是芯片内与原本功能不相关的逻辑大大增加。
我建议你再熟悉一下design，检查dft insert部分的DRC看多少Flipflop没有被扫描替换或者没被串到链上。如果能串的都串了还偏低，就分析ATPG的结果，像AU（atpg_untestable），UC(uncontrolled), UO(unobserved)这些多的话就分析一下关键点，是不是应该能控制的或者应该能观测的点被挡住了，比如可能是被一个常值的控制信号挡住了，或者没有对RAM周边的逻辑做bypass逻辑。
如果该做的都做了，还是偏低一些，那就和相关的designer讨论一下能加多少测试点，是可以提高一些覆盖率的。

hyperpicc

贊同樓上
1. 可以從代碼風格來增加DFT覆蓋率. 例如盡量使用同沿的Flip-flop.
2. 假如當中有將信號轉為clock使用的, 例如某一級Flip-flop的Q輸出, 變成下一級Flip-Flop的時鐘. 這種狀況也有可能導致scan chain串不起來. 解決方式就是在RTL中, 當進入scan mode的時候, 兩者的flip-flop都用同一個clock.
3. 有black box, 像是memory, 相關的輸入與輸出信號在scan mode的時候要bypass memory, 例如輸入直接拉到輸出.

hezelz08

这种情况，一般第一是看DRC报告，明确了设计中不用上chain的cell后，剩下的尽量越多上chain对coverage越好，如果发现有大量应该上chain而没有上chain的cell，主要就是根据DRC来fix这些存在violation的cell，前面两楼已经讲解的比较详细了，大部分情况都是这样处理.

roger452

谢谢回复，我明天试一下

haimo

回复 3# hyperpicc


   您好，我想问一下您说的第三条，意思是：assign f_dout = scan_mode? ram_din :ram_dout;

hyperpicc

回复 6# haimo

是的. 這樣就可以繞過memory. 像是address或是其他控制信號的話, 甚至可以如此

assign f_out = scan_mdoe ? ({address, cs_n, read, write} ^ ram_din) : ram_dout;

當然寬度視您的設計來調整, 上面的只是舉個例子...

flowme

请问功能安全里的覆盖率，和DFT的覆盖率有什么区别？谢谢~

西顾

hyperpicc 发表于 2018-1-5 10:15
回复 6# haimo

是的. 這樣就可以繞過memory. 像是address或是其他控制信號的話, 甚至可以如此

前辈您好，打扰了，如果您可以帮忙解答一点问题的话，真的不胜感激了！！
我这里使用您给的方案，写了这个bypass电路后，仍然出现这个test 451的rom和ram的输出不能识别的问题。
我这里有一点疑问：
1、是正确写了这个bypass电路后这个modeling的问题就会消除吗？还是说只要他能探测到我的rom和ram单元，他就会一直报这个问题？
2、我的sram是厂商给的，他有一个pin是专用于bypass的，我直接打开这个pin，让awt=1，也仍然还是会报这个问题呢，不太懂到底应该怎么做呢？
3、在atpg里面，用capture cycle =4，就可以用fast sequencial的模式生成patten，好像就把这个问题绕过去了，测试覆盖率就会提升，但是我还是有点懵，他这个绕过去的是我们预期需要的对吗？还是说最好还是要在dftc里面把这个test451解决了，那么在atpg就不需要用fast sequencial，只需要basic flow即可？
真的非常感谢前辈了！！希望您可以回答！感谢感谢！！