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查看: 1896|回复: 3

[求助] VCS批量测试 节约重复初始化时间 的问题

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发表于 2017-3-14 20:09:03 | 显示全部楼层 |阅读模式

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我现在负责一个SOC里面一个比较大的模块的仿真,仿真的case是CPU执行预先编译的一套rom代码。
这个比较大的模块会用很多不同的case进行验证(200+),一个case大部分的实际都是在对整个IC的进行初始化(DDR training ,reset, clk),然后执行对子模块的验证耗时很久。

我觉得
    1、整个Testbench的电平和寄存器状态波形是存储在VPD文件内的,
    2、一个C代码的case可以切成两部分,即初始化系统部分和真正有价值的功能验证部分 。
    3、将初始化部分跑完(约2ms) 然后记录整个IC的电平及寄存器状态镜像 ,保存
    4、之后每次跑仿真 load之前的镜像,只编译有价值的部分(0.1~0.5ms)跑仿真,大大压缩耗时。
问一下,VCS有这样的可能么?
发表于 2017-3-15 17:34:20 | 显示全部楼层
这种用法很普遍了。可以参考2014年SNUG论文《FB3.2 - Reality and Challenges in Using Save/Restore in SoC Verification Environment

https://www.synopsys.com/community/snug/snug-austin/location-proceedings-2014.html

回复 1# boystuart
 楼主| 发表于 2017-3-15 19:57:25 | 显示全部楼层
回复 2# nativeda


   木有下载权限,求发送
发表于 2017-3-15 22:52:53 | 显示全部楼层
回复 3# boystuart
给公司干活,就用公司邮箱申请帐号呗
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