scan chain设计时memory如何处理

zhangjirong · 发表于 2014-2-21 14:22:53

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在ATPG中，把memory设为black box，输出为X，这样的话，是否会影响scan测试时，对数据的捕获呢，因为scan中的capture这一步是捕获组合逻辑的输出，但我觉得捕获的数据也有可能来自memory输出端，而memory的输出被设置为X了，请高人指点。

tbb2009 · 发表于 2014-2-21 22:49:55

scan的时候，memory都是在I/O被bypass掉的。scan chain不会经过memory内部逻辑。

zhangjirong · 发表于 2014-2-25 13:53:13

回复 2# tbb2009

mbist controller部分是不是也需要连接到扫描链中，然后在scan mode时，对该部分执行和逻辑部分同样的扫描测试？而memory周围的控制部分的输出经过一些组合运算（异或）之后，通过mux的选择，连接到MBIST电路的输出（Q)，请问是不是这样的呢？

tbb2009 · 发表于 2014-2-25 23:11:14

回复 3# zhangjirong

是的，总之，就是把bist_ctrl 也包括在scan chain里面。

juniorm · 发表于 2014-9-25 16:56:20

回复 2# tbb2009

你好，我不太清楚你说的“scan的时候，memory都是在I/O被bypass掉的”是什么意思？
我的情况是design中先加mbist,然后做scan.就是把bist control里面的DFF都串到scan chain上。
但是在跑仿真观察waveform的时候，就发现报mismatch.
trace电路发现在capture的时候scan DFF的D端接到ram的输出，同时ram输出为X，X往后传。就会导致了仿真不过。

麻烦您能帮忙解释下怎么办么~~非常感谢！

williamliwei · 发表于 2014-9-25 21:57:10

可以在memory周围一圈插入test point，用来提高测试覆盖率，有的lib可会内嵌scanchain，在插scan的时候读入memory的ctl model即可

tbb2009 · 发表于 2014-9-26 08:48:14

回复 5# juniorm

RAM 的输出是X， RAM的输入，也就是前面DFF的输出总不该是X吧，把它拉过来，和输出做个MUX，再给SCAN_DFF的D不就可以了，这个就是bypass RAM.

juniorm · 发表于 2014-9-26 09:41:31

回复 7# tbb2009

   那一个ram的输出可能有几十个,同时一个design里面也有好多的ram
   岂不是要自己加超多的MUX?(我以前就是用这种方法bypass memory的，觉得很麻烦)
   所以想说是否有其他的方法可以简单的实现？
感谢你的回复~~~

ip_qq3010583137 · 发表于 2014-9-26 13:08:07

对memory一般都是这么处理，输入mux 到输出

tbb2009 · 发表于 2014-9-27 08:05:21

回复  tbb2009

   那一个ram的输出可能有几十个,同时一个design里面也有好多的ram
   岂不是要自 ...
juniorm 发表于 2014-9-26 09:41

登录/注册后可看大图

应该没有吧，为了test 完全，一个都不能漏。EDA公司有tool帮你做，但要花银子。小公司都自己做了。几十个，还好吧。分工做做也用不了多久。

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