MCU芯片一般都带可测性设计（DFT）吗？

jacobshen · 发表于 2013-9-20 12:39:59

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想了解下目前在用的那些相对比较低端低成本的MCU，如基于8051核的8位MCU是否都带有可测性设计？基于ARM核的MCU的是否都带DFT？

guolehaohao · 发表于 2013-9-20 18:31:57

回复 1# jacobshen

这个词语没有听过，应该是个新名词吧..不知道你说的是不是JTAG接口，他能够实现边界扫描的功能吧...另外我百度了一下这个DFT，应该是在IC设计方面尤其是在FPGA这一块用的比较多吧...
一般的MCU片子都不带这个功能的，因为其出厂之前基本上将bug已经处理差不多了...

hiyeshiyes · 发表于 2013-9-20 20:24:56

8051肯定不带DFT，貌似8051出来时还没有DFT。

xjwedh · 发表于 2013-9-29 20:56:11

MCU一般都搞DFT测试向量ATP的

jacobshen · 发表于 2013-9-30 10:40:13

MCU一般都搞DFT测试向量ATP的
xjwedh 发表于 2013-9-29 20:56

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那是不是说明芯片一般都有测试管脚，比如jtag口，或者自己定义的一些测试口?

Newstyle · 发表于 2013-10-1 16:10:53

DFT是必备的，但不会给你开放，你只是用JTAG进行调试。

wrhwindboy · 发表于 2013-10-8 20:34:25

现在一般的MCU都是有DFT（就是通常说的SCAN），DFT的好处就是可以降低测试成本。测试贵啊。

JTAG只是一种接口协议。有些公司有自己的接口协议，不一定就用JTAG

ichill · 发表于 2013-10-27 12:06:46

DFT是傅里叶变换吗？

McuPlayer2013 · 发表于 2013-10-27 16:19:18

FFT是快速傅立叶变换
DFT是Design for Test

surge · 发表于 2013-11-7 22:24:58

JTAG跟DFT不可混为一谈。
我觉得规模很小的话不要做DFT，浪费了，直接用功能测试。

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