关于triming中电阻阻值的问题

jeff_zx · 发表于 2013-6-4 13:46:21

回复 10# jiang_shuguo

你说的没错，理论上是这样的。

但实际上我们遇到过，测试环境不稳定，加上cp开窗的工艺波动，造成部分金属残渣残留。实测表现为不到1M的电阻。

当时没有发现，出货后trim信号不稳定。。。。。。。

后来发现这个问题，cp无法解决，一次不断再烧用处不大。当然根本还是trim后面的比较电路有bug。。。。。。

当时的公司陪了不少钱，血淋淋的

还是大意不得

jiang_shuguo · 发表于 2013-6-4 13:54:03

回复 11# jeff_zx

你说的这些问题我们都遇到了。我只是找下原因和解决办法。
我目前避免这个问题的方法就是保证每段triming的电阻小于500K,不知道你们还有其他的解决办法么？谢谢分享。

math123 · 发表于 2013-6-4 14:18:07

回复 jeff_zx

我了解对于poly fuse 是第一次烧不断，会变高阻态，又因为poly fuse 是电压熔断， ...
jiang_shuguo 发表于 2013-6-4 11:02

登录/注册后可看大图

想问下对于poly fuse是否一定要灌固定电流，用加固定电压的方式不行吗？这样就不会烧并联的电阻，可以trim第二次了

jiang_shuguo · 发表于 2013-6-4 14:45:56

回复 13# math123

poly fuse就是电压熔断的。所以高阻后不会第二次熔断。

peter_fu · 发表于 2013-6-7 14:01:37

回复 11# jeff_zx

我也学习了，谢谢分享！

peter_fu · 发表于 2013-6-7 14:03:24

回复 9# jeff_zx

semico_ljj · 发表于 2013-6-7 14:44:25

I^2*R 就是功耗！热了就熔断了
所以r取值适中即可
Metal w 取值参考代工厂的建议

jiang_shuguo · 发表于 2013-6-7 15:00:33

回复 17# semico_ljj

希望您把帖子从头再看一遍

sjun · 发表于 2013-6-8 13:50:06

本帖最后由 sjun 于 2013-6-8 13:51 编辑

回复 14# jiang_shuguo

想问下，为什么poly fuse一般采用电压熔断而metal fuse一般采用电流熔断呢？另外，一般fuse是用metal还是poly呢，trimming的时候是加脉冲信号还是持续信号？多谢！

semico_ljj · 发表于 2013-6-8 15:47:37

奥，不过我不太理解res大了有什么不好（影响）

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