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[讨论] 关于triming中电阻阻值的问题

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发表于 2013-6-3 10:57:00 | 显示全部楼层 |阅读模式

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triming中用的fuse是次顶层金属,用电流方式烧断fuse,那么与该fuse并联的电阻的阻值是大好还是小点好。该电阻过大过小会有问题么?
我认为从烧断fuse的难易来看是这个并联电阻越大越好。希望高手指点。
 楼主| 发表于 2013-6-3 14:55:10 | 显示全部楼层
没人谈谈这个问题或者指导下么?
 楼主| 发表于 2013-6-3 16:52:12 | 显示全部楼层
目前的疑问是该电阻过大会有什么问题。
发表于 2013-6-3 17:05:09 | 显示全部楼层
之前没有关注过用fuse做triming,简单说下我的愚见。
fuse要烧断应该是流过的电流达到一定水平,fuse的阻值一定。电压达到阈值无论并联的电阻多大都能烧断。只是并联的电阻太小自身流过的电流可能太大导致烧断,但应该不影响fuse。
而电阻大的时候,我认为fuse不断就相当于短路,应该不存在影响。
 楼主| 发表于 2013-6-3 17:40:39 | 显示全部楼层
谢谢参与,据说电阻太大会有问题,如产品cp过程triming。
发表于 2013-6-3 20:25:39 | 显示全部楼层
太 大 是会 有问题 的,fuse烧断后表现出来的电阻并 不 是无穷大 的 。
CP时需要经常清理探针。
 楼主| 发表于 2013-6-3 21:42:21 | 显示全部楼层
回复 6# feel100


   我理解fuse烧断后的阻抗应该是无穷大,而阻抗有限应该是因为fuse烧断后又有部分熔回去了,也可以认为是藕断丝连。所以有较大的阻抗。
 楼主| 发表于 2013-6-3 21:44:21 | 显示全部楼层
回复 6# feel100


   能问下cp时候经常清理探针,做什么用? 保证fuse每次都能彻底烧断应该是很困难。
发表于 2013-6-4 10:19:10 | 显示全部楼层
回复 1# jiang_shuguo

   
    据我的理解,trimming应该有两种,一种是产生一个0和1的逻辑信号用,这种结合内部判断逻辑电路,对fuse熔断的要求会很低。
一种是直接调整电阻阻值,由于直接与电阻并联对熔断的要求会比较高。但金属fuse如果有fab提供相关的测试参数或者design rule,应该是没有太大问题的。金属fuse熔断的良率主要还是看实际工艺中开窗能否去干净n-1层metal表面的oxside和需要加的电参数。
但实际cp时也有问题,测试不稳定,接触不良,第一次没有彻底烧断,不管是metal还是poly fuse,不可能在重新加电二次烧,因为第一次烧不断,fuse就变成高阻了。如果这时并联的电阻很大,这个die可能就fail了。

cp过程中清针是测试机探针台自动的功能,因为探针测试一段时间就会氧化,导致接触不良。所以需要自动清洗一下。
 楼主| 发表于 2013-6-4 11:02:30 | 显示全部楼层
回复 9# jeff_zx


    我了解对于poly fuse 是第一次烧不断,会变高阻态,又因为poly fuse 是电压熔断,所以对于poly fuse 若第一次融不断,就不可能再熔断了。但是metal fuse 是不会变高阻态的。而且是电流熔断方式。
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