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[求助] 一个老问题,hspice里面怎么设置温度随时间变化?

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发表于 2012-4-10 09:49:50 | 显示全部楼层 |阅读模式

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查了一些论坛都没有太好的答案,问下大牛们怎么做的。在系统整仿过程中,如果可以设定温度随时间或者随电压变化,将会大大减少仿真时间,但是有没有解决办法啊。
发表于 2012-4-10 10:20:34 | 显示全部楼层
这都可以……排队等解答.
发表于 2012-4-10 10:27:07 | 显示全部楼层
你还是拿到片子后把它放到探针台上去吧,随便啥温度曲线都能烧了
发表于 2012-4-10 10:32:20 | 显示全部楼层
不知道,应该不能吧。
发表于 2012-4-10 12:54:45 | 显示全部楼层
好像是没这个功能,温度变化只能作DC扫描。
可以给synopsys提建议,强烈建议他们将这个功能加到transient仿真中去。
发表于 2012-4-10 14:39:37 | 显示全部楼层
本帖最后由 peterlin2010 于 2012-4-10 14:43 编辑

回复 5# 过路心客



把 temp 放到電阻內做跑 tran 隨時間變 resistor macro model ..
Like

rsh='10*(1+sin(time))'
x1 n00 0 rp1 l=2000u w=2u m=1
r1 avdd n00 10k
vss gnd 0 0
v11 avdd 0 pwl(0,0 50m,5)
  
.tran 500u 12
.probe tran i(r1) v(n00)


rsh 會隨時間變 sine .時間是以 "sec"  ..這很長的單位
..


                               
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sorry ..我知道樓上是希望 temp 隨時間變
GLOBAL 方式不知道

但單一元件是可以得 ..
電阻隨時間變.. 不知能否套到隨時間變溫度 ?



不過不知道Verilo A 有沒辦法做更簡單方式 ?
1.jpg
发表于 2012-4-10 15:38:14 | 显示全部楼层
回复 6# peterlin2010

非常感谢!
 楼主| 发表于 2012-4-10 17:22:23 | 显示全部楼层
回复 6# peterlin2010


   非常感谢,这样就有点思路了。
发表于 2012-4-11 09:05:51 | 显示全部楼层
有些CHIP  bug是溫度變化過程才會

溫度穩定下不會

烤箱拷高溫不會這很難DEBUG
hspice 沒法用 tran 去跑溫度  global

但單一元件或許可把 temper ,  time 帶入
发表于 2012-4-11 15:45:43 | 显示全部楼层
我印象中gray小组2000年做数字calibration的pipeline那本书里就有温度变化对calibration影响的仿真与实验,他们是怎么仿的呢?
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