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查看: 3600|回复: 5

[求助] IP核的logic 测试模式,需不需要单独给这种模式编写一个sdc做timing检查?

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发表于 2011-11-16 13:23:23 | 显示全部楼层 |阅读模式

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我的ASIC集成了ddr、usb等IP,我为ASIC设置了一种模式,即为ddr、usb等IP核的bist logic测试模式,通过启动bist logic来测试usb、ddr等的功能,如loopback,在做ASIC(即顶层)sdc时,需不需要单独给这种模式编写一个sdc做timing检查???我的感觉是,这块ASIC在function mode下是不是包含了上述情况(即bist logic所测试的功能),在function mode的SDC约束下满足时序的话,在用IP 的bogic bist来测试功能的时候也能够满足timing,不需要单独写sdc进行时序检查??
      求大神指教啊!!非常谢谢!!
发表于 2011-11-16 18:37:37 | 显示全部楼层
这个要看你的bist logic的时钟设计方案.
如果在bist mode下待测部分所用的时钟和bist logic时钟与function模式下相同,比如都都是PLL生成的,那么就不用单独再做sdc.
如果在bist mode下所用的时钟与function模式下不同,如bist mode下需要从外部引入时钟,那么如果没有bist sdc做后端时就没法做bist mode下的cts,所以可能会有setup/hold问题.

另外你所说的"通过启动bist logic来测试usb、ddr等的功能,如loopback",这里的"loopback"是什么意思?怎么样用bist来测loopback呢?为什么要用bist logic来测呢?
 楼主| 发表于 2011-11-16 19:43:56 | 显示全部楼层
回复 2# creese


    谢谢您的回复,是这样的,这几个IP在function mode下和我这里所说的测试模式下用的时钟完全相同,都是输入一个相同的时钟到相同的pll,ddr用的是DLL。照 你的理解,就是不用编写新的sdc来检查timing。是这样的,我们的这边的模式是这样分的,1)function mode  2)jtag mode 3)MBIST mode,4)还有scan mode,最后 5)IP test mode,主要是对IP公司提供的IP进行专门检查,测试所集成的IP在流片以后成品率。loopback就是一条收发回路,拿usb来说,并行发送的数据将通过发送路径传到串行输入端,同时,串行输入端接收的数据又会同过接受入径传送到并行接受端。在usb的正常工作情况下,要不只有接受路径能打通,要不只能发送路径打通,仅能接受或者发送。在测loopback时,接受发送路径都打通,发送的同时也能接受数据。之所以用bist logic 测loopback,是因为我们用bist logic来产生我们所需要的pattern。
发表于 2018-12-18 21:59:27 | 显示全部楼层
学习中。。。。。。。。。。。。。。。
发表于 2018-12-19 13:15:21 | 显示全部楼层
mark mark
发表于 2018-12-20 13:49:51 | 显示全部楼层
Analog bist应该不用单独设sdc, bist的时候这些IP的数字部分其实是工作在function模式
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