在线咨询
eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
切换到宽版

EETOP 创芯网论坛 (原名:电子顶级开发网)

手机号码,快捷登录

手机号码,快捷登录

找回密码

  登录   注册  

快捷导航
搜帖子
查看: 16950|回复: 70

[原创] High Performance Memory Testing Design Principles, Fault Modeling and Self-Test

[复制链接]
发表于 2010-2-7 20:53:32 | 显示全部楼层 |阅读模式

马上注册,结交更多好友,享用更多功能,让你轻松玩转社区。

您需要 登录 才可以下载或查看,没有账号?注册

x
"Fulfilling a need in the industry and a need in the literature, the book is certain to stimulate a heightened research interest in memory test, memory design, and memory elf test, each of which by itself constitutes an intriguing subject. The observations and approaches of the book make it a most useful work for the professional and the researcher in helping them understand the memories that are being tested."
 楼主| 发表于 2010-2-7 21:05:16 | 显示全部楼层
1# netghost
 楼主| 发表于 2010-2-7 21:18:12 | 显示全部楼层
2# netghost

High Performance Memory Testing Design Principles, Fault Modeling and Self-Test.part1.rar

4.37 MB, 下载次数: 396 , 下载积分: 资产 -3 信元, 下载支出 3 信元

High Performance Memory Testing Design Principles, Fault Modeling and Self-Test.part2.rar

4.37 MB, 下载次数: 369 , 下载积分: 资产 -3 信元, 下载支出 3 信元

High Performance Memory Testing Design Principles, Fault Modeling and Self-Test.part3.rar

723.36 KB, 下载次数: 339 , 下载积分: 资产 -2 信元, 下载支出 2 信元

发表于 2010-2-8 08:58:18 | 显示全部楼层
thanks!
发表于 2010-2-8 09:32:33 | 显示全部楼层
good 1
发表于 2010-2-8 14:47:46 | 显示全部楼层
thanks for sharing
发表于 2010-2-8 14:49:27 | 显示全部楼层
thanks for sharing
发表于 2010-2-16 23:14:32 | 显示全部楼层
good book
发表于 2010-2-18 11:06:15 | 显示全部楼层
thanks
发表于 2010-2-18 11:14:13 | 显示全部楼层
thanks
您需要登录后才可以回帖 登录 | 注册

本版积分规则

关闭

站长推荐 上一条 /2 下一条

×

小黑屋| 手机版| 关于我们| 联系我们| 在线咨询| 隐私声明| EETOP 创芯网
( 京ICP备:10050787号 京公网安备:11010502037710 )

GMT+8, 2024-11-24 10:23 , Processed in 0.024560 second(s), 9 queries , Gzip On, Redis On.

eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
快速回复 返回顶部 返回列表