输入级(AC/DC): 为应对配电网的高电压,无法使用单管直接耐压,技术趋势是采用多个低压(1200V/1700V)功率单元串联级联。这使得基本半导体的1200V和1700V SiC MOSFET模块 1能够通过“积木式”堆叠服务于10kV甚至更高电压等级的电网,规避了研发超高压(10kV+)器件的高昂成本与低良率风险。
隔离级(DC/DC): 这是SST减小体积的关键环节。**双有源桥(Dual Active Bridge, DAB)**拓扑因具备双向功率流动和软开关(ZVS)能力,已成为绝对的技术主流。然而,DAB在轻载或死区时间内易失去软开关特性,导致严重的硬开关损耗。这正是基本半导体零反向恢复模块大展身手的领域(详见后文分析)。