DDR芯片测试典型技术问题探讨【1月12日直播报名免费】

发表于 2023-1-8 07:40:57 | 显示全部楼层 |阅读模式

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随着信息技术的发展，以DDR为代表的存储技术也有了巨大的飞跃，

伴随着越来越高的数据速率，DDR的研发与测试也面临巨大的挑战。

本次研讨会，将针对DDR芯片，

主要是DDR 4和DDR 5芯片在测试过程中，遇到的一些典型问题，进行总结和讨论。

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EDA直播火热报名！半导体器件建模工程实践: 半导体器件模型是连接代工厂和IC设计公司之间的桥梁。器件建模，顾名思义就是对于器件或者电路的电学行为比如电流电压关系，电容电压关系以及S参数和频率关系等等的一个数学描述。器件模型通过PDK的方式集成到仿真工具中..

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