车规级器件认证标准AEC-Q100

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AEC-Q100基于集成电路应力测试认证的失效机理

1、Q100除主标准(base document)外，还有12个分标准，从001到012，分别如下：

²  AEC-Q100Rev-H: Failure Mechanism Based Stress Test Qualification For IntegratedCircuits(base document)，主标准。

²  AEC-Q100-001Rev-C: Wire Bond Shear Test，邦线切应力测试。

²  AEC-Q100-002Rev-E: Human Body Model (HBM) Electrostatic Discharge Test人体模式静电放电测试。

²  AEC-Q100-003Rev-E: Machine Model (MM) Electrostatic Discharge Test，[Decommissioned] 机械模式静电放电测试，已废止，因为JEDEC里面也给淘汰了。

²  AEC-Q100-004Rev-D: IC Latch-Up Test集成电路闩锁效应测试。

²  AEC-Q100-005Rev-D1: Non-Volatile Memory Program/Erase Endurance, Data Retention, andOperational Life Test 非易失性存储程序/擦除耐久性、数据保持及工作寿命的测试。

²  AEC-Q100-006Rev-D: Electro-Thermally Induced Parasitic Gate Leakage Test (GL)[Decommissioned] 热电效应引起的寄生门极漏电流测试，已废止，因为认证测试不需要了（lack of need）。

²  AEC-Q100-007Rev-B: Fault Simulation and Test Grading，故障仿真和测试等级。

²  AEC-Q100-008Rev-A: Early Life Failure Rate (ELFR) 早期寿命失效率。

²  AEC-Q100-009Rev-B: Electrical Distribution Assessment电分配的评估。

²  AEC-Q100-010Rev-A: Solder Ball Shear Test锡球剪切测试。

²  AEC-Q100-011Rev-D: Charged Device Model (CDM) Electrostatic Discharge Test带电器件模式的静电放电测试。

²  AEC -Q100-012 - Rev-: Short Circuit Reliability Characterization of Smart PowerDevices for 12V Systems 12V 系统灵敏功率设备的短路可靠性描述。

13个文档中，2个已经是废止状态，012适用于我们之前电气架构里面讲过的HSD和LSD等智能芯片。

2、AEC-Q100的测试项目非常多，一共分成了7个测试组群。

•    测试群组A：环境压力加速测试，如室温、高温，湿度，温湿度循环等；

•    测试群组B：使用寿命模拟测试，室温、高低温寿命测试；

•    测试群组C：封装组装整合测试 ，主要是邦线相关的测试；

•    测试群组D：芯片晶圆可靠度测试，如电迁移，热载流子等；

•    测试群组E：电气特性确认测试；如ESD，EMC，短路闩锁等；

•    测试群组F：瑕疵筛选监控测试，过程平均测试及良率分析；

•    测试群组G：封装凹陷整合测试，包括机械冲击、震动、跌落等测试。   

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这个，去AEC官网下载就好了。有必要看二手资料吗？

Ralphjh

谢谢分享

huatiantian

kankan

ghostllj

下下来看看，谢谢分享

edison0217

谢谢分享

wpz123

thanks

kuan

谢谢分享

skahill

Thanks

jiurizhizi

谢谢分享~~