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[资料] 车规级器件认证标准AEC-Q100

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发表于 2022-11-1 21:18:45 | 显示全部楼层 |阅读模式

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AEC-Q100基于集成电路应力测试认证的失效机理
1、Q100除主标准(base document)外,还有12个分标准,从001到012,分别如下:
²  AEC-Q100Rev-H: Failure Mechanism Based Stress Test Qualification For IntegratedCircuits(base document),主标准。
²  AEC-Q100-001Rev-C: Wire Bond Shear Test,邦线切应力测试。
²  AEC-Q100-002Rev-E: Human Body Model (HBM) Electrostatic Discharge Test人体模式静电放电测试。
²  AEC-Q100-003Rev-E: Machine Model (MM) Electrostatic Discharge Test,[Decommissioned] 机械模式静电放电测试,已废止,因为JEDEC里面也给淘汰了。
²  AEC-Q100-004Rev-D: IC Latch-Up Test集成电路闩锁效应测试。
²  AEC-Q100-005Rev-D1: Non-Volatile Memory Program/Erase Endurance, Data Retention, andOperational Life Test 非易失性存储程序/擦除耐久性、数据保持及工作寿命的测试。
²  AEC-Q100-006Rev-D: Electro-Thermally Induced Parasitic Gate Leakage Test (GL)[Decommissioned] 热电效应引起的寄生门极漏电流测试,已废止,因为认证测试不需要了(lack of need)。
²  AEC-Q100-007Rev-B: Fault Simulation and Test Grading,故障仿真和测试等级。
²  AEC-Q100-008Rev-A: Early Life Failure Rate (ELFR) 早期寿命失效率。
²  AEC-Q100-009Rev-B: Electrical Distribution Assessment电分配的评估。
²  AEC-Q100-010Rev-A: Solder Ball Shear Test锡球剪切测试。
²  AEC-Q100-011Rev-D: Charged Device Model (CDM) Electrostatic Discharge Test带电器件模式的静电放电测试。
²  AEC -Q100-012 - Rev-: Short Circuit Reliability Characterization of Smart PowerDevices for 12V Systems 12V 系统灵敏功率设备的短路可靠性描述。
13个文档中,2个已经是废止状态,012适用于我们之前电气架构里面讲过的HSD和LSD等智能芯片。
2、AEC-Q100的测试项目非常多,一共分成了7个测试组群。
•    测试群组A:环境压力加速测试,如室温、高温,湿度,温湿度循环等;
•    测试群组B:使用寿命模拟测试,室温、高低温寿命测试;
•    测试群组C:封装组装整合测试 ,主要是邦线相关的测试;
•    测试群组D:芯片晶圆可靠度测试,如电迁移,热载流子等;
•    测试群组E:电气特性确认测试;如ESD,EMC,短路闩锁等;
•    测试群组F:瑕疵筛选监控测试,过程平均测试及良率分析;
•    测试群组G:封装凹陷整合测试,包括机械冲击、震动、跌落等测试。   

AEC-Q100.rar

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发表于 2022-12-5 11:46:47 | 显示全部楼层
这个,去AEC官网下载就好了。有必要看二手资料吗?
发表于 2023-1-11 11:21:23 | 显示全部楼层
谢谢分享
发表于 2023-2-8 16:03:19 | 显示全部楼层
kankan
发表于 2023-3-1 16:09:37 | 显示全部楼层
下下来看看,谢谢分享
发表于 2023-5-19 16:28:26 | 显示全部楼层
谢谢分享
发表于 2023-8-19 22:53:38 | 显示全部楼层
thanks
发表于 2023-8-21 08:02:37 | 显示全部楼层
谢谢分享
发表于 2 小时前 | 显示全部楼层
Thanks
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