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随着集成电路外形尺寸缩小,几乎所有的指标都需要改善单位成本,并降低开关功率消耗,速度提高。集成纳米级别设备的IC也存在问题,主要是泄漏电流。因此,对于最终用户的速度和功率消耗增加非常明显,制造商面临更多尖锐挑战。泰克从不同应用角度提出了解决方案:
• 射频IC测试
– 射频IC的功率及频率参数测量
– 射频IC的模拟及数字调制特性分析性
• IC 直流特性测试
– IC 直流特性测试
– 集成电路I/O间的泄露电流测试
– IC设计的I/V特性测试
• 混合信号调制
– 应对当代复杂混合信号IC测试
– 对多路并行总线的逻辑分析
– 快速解决多种标准协议解码触发
• 功率IC 测试
– 准确高效进行功率瞬态信号的测试评价
– 提高电源测试精度方法汇总
– 应对多种电源标准,能源之星,EN62301测试的挑战
活动页面 | 点击这里 | 活动时间 | 2016年3月1日-2016年3月31日 | 奖品规则 | 凡是在泰克活动页面成功注册表单的客户可以参与如下抽奖: | 前100名抽取5名一等奖 | 面值100元京东电子充值卡 | 前300名抽取20名二等奖 | T恤 | 前500名抽取20名三等奖 | 30元移动充值卡 | 人人有奖 | 150信元 | 所有奖项都需要在泰克活动页面注册成功获得抽奖资格。奖项由泰克抽出和发放,活动结束在论坛公布获奖名单。
四等奖还需要跟帖回复,回复邮箱前两个字母和手机后三位,经过泰克和EETOP后台审核,然后获得信元。 |
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