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[原创] “4G and LTE”时代的来临,“Trial and Error”时代的终结

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发表于 2015-8-3 22:36:12 | 显示全部楼层 |阅读模式

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“Trial andError”是工程实践调试方法,其基本原理模型是经验累积及误差迭代消除,具体在射频电路调试过程中,是根据原始参考设计,设定初始元件及器件值,调整元件组合及器件值大小,尽量减少与期望结果误差,通过反复努力,获得在期望结果容差范围内的,元件组合及器件值的调试方法。


“Trial andError”在射频电路调试中比较常见,主要有两个原因:首先是因为射频电路比较复杂,射频特性受很多因素影响,不同应用平台的元件组合及器件值完全不同,所谓参考设计仅能提供基本的性能参考,必须通过较长过程的经验累积及误差迭代消除,也即“调调试试”的过程,才能实现期望的性能结果。另外,“Trial and Error”调试方法的入门门槛较低,不需对射频电路有深刻的认识和理解,甚至可以简化为换器件及测试,适用于技术资源较薄弱,但又需大量支撑的场合,所以“Trial and Error”甚至被戏称为体力活,依靠的是“运气和努力”。


“Trial andError”调试方法在手机2G时代大量使用,并取得了较好的实际效果,基本原因是因为手机2G时代的射频电路以功率指标为主,器件理论设计与实际参数吻合较好,只要射频电路设计,生产及装配严格以50欧姆为品控指标,调试难度不大,仅需根据参考设计,调整为数不多的元件,应付几个频段即可,所以实际使用结果较好,但也同时掩盖了一个问题:“Trial and Error”其实并不能算是严格意义上的射频知识积累,累积的所谓经验,仅能处理相同或类似的问题,对于手机3G时代面临的射频电路调试问题,其弱点逐渐暴露出来。


手机3G时代开始以复杂的数字调制为重要特征,所以射频电路以功率和线性为重要指标,由于理论的局限性,射频电路线性指标的理论设计与实际参数吻合较差,所以手机3G时代开始,射频电路的调试难度显著增加,不同应用平台射频电路的的不确定性开始体现,原始参考电路很难在不同应用平台上统一使用,也不能通过调整为数不多的元件,实现期望的射频性能,基本凭借“运气和努力”,依靠“Trial and Error”,期望最大限度地实现射频性能。


然而,在单调繁琐的调试过程中,“Trial and Error”调试方法的问题在逐渐体现出来:首先,“Trial andError”是基于人类线性思维方式工作的,例如器件值增大,性能变好,我们就只能认为误差迭代消除的方向是器件值增大,对于两个或以上器件组合或值变化组合,对性能的影响,完全没有相应的思维方式和处理方法,所以“Trial and Error”的误差迭代消除方式是非常缓慢,并且是不可靠的,具体表现为可能很快有较好的结果,也可能花费很多时间和精力也不能获得好的性能结果,只能依靠增加资源投入或降低标准,以实现性能目标。


其次,“Trial andError”的初始状态,通常基于原始参考设计,由于实际射频电路设计与原始参考设计存在差别,有可能射频特性完全不同,因此基于原始参考设计的初始状态,有可能完全不能在实际射频电路上,实现期望的射频性能,这也可能是某些“Trial and Error”调试方法陷入“死胡同”,始终不能实现期望的射频性能的根本原因。


最后,“Trial andError”从方法原理上,仅可能找到局部最优解,很难实现全局最优解,即使用“Trial and Error”调试方法所实现的最佳射频性能,仅是“调调试试”过程中射频性能最佳的,对于射频电路可能实现的潜在最佳射频性能,“Trial and Error” 线性工作过程中累积的数据和结果,无现实指导意义,所以射频电路可能并能体现真正的最佳射频性能。


“4G and LTE”时代的来临,对射频电路提出了更高的要求,不仅是射频电路更复杂,功能单位面积更小,应用频段更多,功率和线性要求更高,更重要的是,产品周期更快,研发及调试风险更大。显然,“Trial and Error”从方法,原理及应用上,是不能适合“4G and LTE”的要求的。所以,普遍地有“4G and LTE”射频电路较难调试的现象,因此,运用新的射频电路调试方法,切实可行地高效解决目前射频电路调试面临的根本问题,具有很强的指导意义及实用价值。


对于“4G and LTE”时代的射频电路,已总结出一套完整的基于仿真的高级调试方法,仿真与实测结果的吻合度达到90%以上,完全不依赖“Trial and Error”,可高效解决目前射频电路面临的根本调试问题,基本做到3天左右完成目前“4G and LTE”,5模12频段的射频调试工作,而且射频性能基本实现全局最优,最大限度地发挥射频电路的最佳性能。


由于新的射频电路调试方法基于射频电路数字仿真技术,而ADS是最容易获得的射频电路仿真手段,所以附件以ADS为例,介绍了初级阶段,基于ADS仿真的射频电路调试方法,并增加了一些射频知识方面的内容,希望有“抛砖引玉”的作用。需着重指出的是,ADS的S参数射频电路仿真,是基于传输线方程的数值仿真计算,而双工器等是基于MAXWELL方程的射频功能器件,在附件的应用实例中,实质是用S参数代替双工器进行ADS数值仿真计算,其结果必然与实测结果误差较大,而且工作频率越高,误差越大,所以此方法为初级调试方法,目的是掌握新的思维方式和工作方法,熟练的话,可以确保半日或1日完成“4G and LTE”1个频段的射频调试工作,相对“Trial and Error” 单调繁琐的调试过程,以及依靠“运气和努力”的性能结果,已经是很大的进步。



RF Matching Techniques.pdf (1.43 MB, 下载次数: 125 )

发表于 2015-8-17 21:30:10 | 显示全部楼层
村田的讲义你竟然能拿到~~~~
发表于 2015-8-19 18:51:11 | 显示全部楼层
楼主这个好东西啊,我需要
发表于 2015-8-25 21:21:18 | 显示全部楼层
学习学习
发表于 2015-8-26 17:04:02 | 显示全部楼层
Thank you for sharing good information
发表于 2015-8-29 10:53:59 | 显示全部楼层
Thanks~~~~~~
发表于 2015-9-30 15:40:52 | 显示全部楼层
下下来看看
发表于 2015-12-30 10:37:21 | 显示全部楼层
回复 1# yyuanhk


   好,点个赞
发表于 2015-12-30 14:05:20 | 显示全部楼层
回复 1# yyuanhk


   感谢楼主分享!
发表于 2016-1-14 21:25:18 | 显示全部楼层
谢谢楼主分享。
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