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本帖最后由 evilwater 于 2013-1-1 22:48 编辑
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                Ultra-thin oxide reliability.pdf
                
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                Trap generation and breakdown processes in very thin gate oxides.pdf
                
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                The negative bias temperature instability in MOS devices( A review ).pdf
                
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                A thorough investigation of MOSFETs NBTI degradation.pdf
                
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                NBTI Road to cross in deep submicron silicon semiconductor manufacturing.pdf
                
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                Reliability issues of flash memory cells.pdf
                
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                Drain-accelerated degradation of tunnel oxides in Flash memories.pdf
                
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                Characterization of the hot-electron-induced degradation in thin SiO2 gate oxides.pdf
                
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                A review of hot-carrier degradation mechanisms in mosfets.pdf
                
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                ESD protection design for CMOS RF integrated circuits using polysilicon diodes.pdf
                
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                Conventional interconnects- the crisis(2000) .pdf
                
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