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本帖最后由 evilwater 于 2013-1-1 22:48 编辑
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Drain-accelerated degradation of tunnel oxides in Flash memories.pdf
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ESD protection design for CMOS RF integrated circuits using polysilicon diodes.pdf
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Conventional interconnects- the crisis(2000) .pdf
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发表于 2012-12-31 10:00:43
