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可靠性文献阅读资料

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发表于 2012-12-31 10:00:43 | 显示全部楼层 |阅读模式

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本帖最后由 evilwater 于 2013-1-1 22:48 编辑

可靠性文献阅读资料

Ultra-thin oxide reliability.pdf

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Trap generation and breakdown processes in very thin gate oxides.pdf

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The negative bias temperature instability in MOS devices( A review ).pdf

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A thorough investigation of MOSFETs NBTI degradation.pdf

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NBTI Road to cross in deep submicron silicon semiconductor manufacturing.pdf

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Reliability issues of flash memory cells.pdf

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Drain-accelerated degradation of tunnel oxides in Flash memories.pdf

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Characterization of the hot-electron-induced degradation in thin SiO2 gate oxides.pdf

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A review of hot-carrier degradation mechanisms in mosfets.pdf

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ESD protection design for CMOS RF integrated circuits using polysilicon diodes.pdf

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Conventional interconnects- the crisis(2000) .pdf

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