VLSI DFT Design

hahababy · 发表于 2006-11-17 10:50:54

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完整的VLSI可测性设计原理、方法介绍
chapter1 Introduction
chapter2 Fault Modeling
chapter3 Testability Measures
chapter4 Fault simulation
chapter5 Combination Circuit Test Generation
chapter6 Test Generation for Sequential Circuits
chapter7 Design for Testability
chapter8 Built-In Self-Test
chapter9 Memory Testing
chapter10 Test Standards

All by Jin-Fu Li ,Department of Electrical Engineering National Central University,Jungli,Taiwan

liufuyuan · 发表于 2006-12-4 22:07:54

下了,看看!

xamouse · 发表于 2006-12-8 16:39:49

是个PPT资料，不错！

freebirdlee · 发表于 2007-2-27 21:44:22

thanks!

asd2007 · 发表于 2007-5-5 02:50:06

thanks!

coffeelox · 发表于 2007-5-6 11:59:42

should be helpful on my learning. not started yet.

LAS.xs · 发表于 2007-5-6 12:28:23

hao!
dingyige

cola_jiao · 发表于 2007-6-6 02:59:20

正需要谢谢楼主

heisenberg · 发表于 2007-7-4 19:29:21

不错，好东西！

legendfly · 发表于 2007-9-5 14:42:54

需要test的资料.

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