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采用genus insert low pin compression flow,插入过程非常顺利。
但是在用modus来产生ATPG时,总是有TTM-362和TSV-331的warning。
WARNING (TTM-362): At event 5.1.2 of the scanop sequence, observable scan
element Block.f.l.RF_SOC.nl.core_u.audio_top_u.audio_u.ascl.done_1d_reg.I0.dff_primitive is corrupted. Since the value captured by this scan element
may have been overwritten, the latch is removed from the scan chain as a valid measure point.
22098 WARNING (TSV-331): [Severe] An observable latch or flop block core_u.audio_top_u.audio_u.ascl.done_1d_reg.I0.dff_primitive was corrupted by the Channel Mask Load sequence. Since the value captured by this latch or flop may be overwritten, this latch or flop is removed from the scan chain.
这样后面的COMPRESSION mode下的产生pattern的coverage只有不到30%
尝试了各种办法,插入TPI等,都是无效。
后来再次读DFTuser.pdf 文档中关于插入 low pin count compression flow,发现其中一个note 非常有意思:
想到可能是这里的原因导致的。
但是检查netlist,发现这个TEST_CLOCK_ENABLE 信号在接下来的syn_opt过程中被优化掉了。
只能在插入压缩macro之后,syn_opt之前,将TEST_CLOCK_ENABLE信号与传到scan flop之间插入一个and gate来gate test_clock.
下面图中,上半部分是刚插入COMPACTOR的clock tree,
下半部是修改后的。
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