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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › 集成电路面试必备之可测性设计（下）
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楼主: nano_dv

[资料] 集成电路面试必备之可测性设计（下）

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yuqiufengshanye
发表于 2018-3-3 13:05:06 | 显示全部楼层
谢谢分享，

在这回复是个好习惯
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569038754
发表于 2018-3-9 16:13:34 | 显示全部楼层
这是讲述DFT的资料，感谢楼主大大！
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Lover_Momo
发表于 2018-4-6 07:39:21 | 显示全部楼层
干货，楼主是个大大的好人
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wk99399
发表于 2020-8-16 19:02:35 | 显示全部楼层
资料内容比较简略
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kingmomo0002
发表于 2021-1-28 16:10:55 | 显示全部楼层
Thanks a lot
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WJP_td
发表于 2021-2-3 21:56:24 | 显示全部楼层
:):):)
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