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新世代SAR值量测设备及微型近场电磁波扫描之未来发展研讨会

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发表于 2015-5-18 16:27:10 | 显示全部楼层 |阅读模式

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2015Auden研讨会_报名简章_CN.DOCX (691.08 KB, 下载次数: 0 )

第十届新世代SAR值量测设备及微型近场电磁波扫描之未来发展研讨会

Auden & SPEAG Taiwan/China the 10thworkshop series

Optimized Measurement Solutions for SAR/OTA/EMC


今年将迎来第10届耀登科技软硬件研讨会,耀登科技仪器销售部多年来专注于量测设备与仿真软件的销售,相关设备皆以使用者立场亲自体验, 特别展示快速量测SAR设备,欢迎旧雨新知到场指教。今年大陆区订于201563日于北京中关村皇冠假日酒店,65日于深圳海景奧思廷酒店,68日于上海中油阳光大酒店举办「2015 SAR/OTA/EMC量测模拟暨实机体验研讨会」,会中分享CTIA最新法规与穿戴式装置未来发展、SAR, HAC, EMC测量技术及最新测试功能,今年强势推出cDASY6及生物医学软件sim4life让业界能借此研讨会针对电磁量测与模拟之先进技术进行交流和经验分享,现场亦将展示相关软硬件设备并进行亲身体验,我们还准备了抽奖活动,衷心地期待您的到临和参与!

                              主办单位                                   Schmid &Partner Engineering AG

Auden Techno. Corp. 耀登科技股份有限公司

【会议地点及时间】:

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Date 3 Jun 2015 (Wednesday) 5 Jun 2015(Friday) 8Jun 2015 (Monday)

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Time 9:00 AM ~ 16:30 PM

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Location  北京中关村皇冠假日酒店北京海淀区知春路106(3 Jun

深圳海景奥思廷酒店深圳南山区华侨城光侨街3-5(5 Jun)

上海中油阳光大酒店浦东新区东方路969(8 Jun)

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Contact information:Auden Techno. Corp. Equipment Marketing Dept.

                        TEL: (021) 61631930 orE-mail Ins@auden.com.tw

      Ext 0 Tina Xu   E-mail: Tina.Xu@auden.com.tw

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活动费用: 全程免费(提供午餐餐盒、讲义、茶点、水果)

Workshop议程表-2015新世代SAR值量测设备及微型近场电磁波扫描之未来发展研讨会】

  

China Workshop – 3 Jun 2015~8 Jun 2015

  
  

Time

  
  

Agenda

  
  

Speaker

  
  

09:00 - 09:20

  
  

Registration

  
  

09:20 - 09:30

  
  

Opening & Welcome Remarks

  
  

Auden & Dr. Nicolas Chavannes

  
  

09:30 - 09:45

  
  

Update on SAR, HAC & OTA Measurement Standards

  
  

Dr. Mark Douglas

  
  

09:45 - 10:10

  
  

DAK-TL - Fully Automated Dielectric and Magnetic Material  Characterization Test System for Thin Layers (incl Demo)

  
  

Dr. Sven Kühn

  
  

10:10 - 10:30

  
  

Coffee Break

  
  

10:30 - 11:30

  
  

Outlook on Sim4Life V2.0 & SEMCAD Matterhorn V15.4 (Release  Highlights)

  
  

Dr. Nik Chavannes

  
  

11:30 - 12:30

  
  

Selected Applications of Sim4Life V2.0 & SEMCAD Matterhorn V15.4

  
  

Aiping Yao

  
  

12:30 - 13:30

  
  

Lunch

  
  

13:30 - 13:45

  
  

EM-Phantoms - Roadmap for Body-worn/Wearable and Medical Device Testing

  
  

Dr. Sven Kühn

  
  

13:45 - 14:30

  
  

cSAR3D: Real-time SAR Assessment with Vector Technology (incl. Demo)

  
  

Dr. Mark Douglas

  
  

14:40 - 15:00

  
  

cDASY6 - DASY52 revised

  
  

Dr. Mark Douglas

  
  

15:00 - 15:20

  
  

Coffee Break

  
  

15:20 - 15:40

  
  

SPEAG TDS (Time Domain Sensors): Photonic Technologies for Absolute and  Traceable Measurements in EMC/EMI Near-Field and Signal Integrity Analysis

  
  

Dr. Sven Kühn

  
  

15:40 - 16:00

  
  

SPEAG ICEy (Interference & Compatibility Evaluation System):  Introducing Absolute and Traceable Measurements in EMC/EMI/SI Near-Field and  Radiated Emission Analysis

  
  

Dr. Sven Kühn

  
  

16:00 - 16:15

  
  

Q & A

  
  

16:15 - 16:30

  
  

Raffles

  
  

16:30 - 16:40

  
  

Closing Remarks

  

主办单位保有更换讲师及议题之权利【报名表及报名方法】

一、eMail报名:

请填妥以下报名表,email Ins@auden.com.tw,有专人为您服务喔!

注意事项: 请于22 May 2015 (星期五)前以上述报名方式回复本简章以便保留您的座位

【报名表】

  公司名称     
  报名场次    北京场  □深圳场  □上海场  
  报名编号        部门    职称    e-mail Address    电话    移动电话  
  1                         
  2                         
  3                         
  行业分类  (请标示*,可复选并简述营业项目)    通讯制造业 :   安规/认证实验室:   学校/学术单位  :   其他(        ):    
      1.
主办单位提供午餐给参加全日场次报名者,请勾选午餐(   )  (   )  


【因座位有限每间客户以三人为限,造成不便,尚祈见谅】


【会后缴交问卷调查者赠送精美小礼物及课程电子文件数据】


【北京会场地图】

地铁: 10号线海淀黄庄店C1东南出口 460

【深圳会场地图】

地铁:华侨城地铁站A口,步行1分钟到达

【上海会场地图】

地铁:6号线浦电路站4号口,270米

      4号线浦电路站1号口,310米

发表于 2015-6-2 00:40:09 | 显示全部楼层
额,平时不太用这个,顶一下吧。
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