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本帖最后由 yangics 于 2011-3-31 21:59 编辑
几篇IEEE ESD文献 |
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Analysis of gate-bias-induced heating effects in deep-submicron ESD protection designs.pdf
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Dynamic gate coupling of NMOS for efficient output ESD protection.pdf
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A design model of gate-coupling NMOS ESD protection circuit.PDF
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abbr_39f18bf0268dd61a52243db2768b8985.pdf
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