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导通电阻测试

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发表于 2013-11-29 11:25:44 | 显示全部楼层 |阅读模式

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在大电流时,测试MOS管的导通电阻,如何保证Tj=Ta呢?Tj 结温度,Ta环境温度。
图片为Ti一芯片的规格书,不知道如何实现的?
1.JPG
发表于 2013-12-25 09:35:28 | 显示全部楼层
应该指的是近似在芯片不发热的情况下进行测试。但是实际中在那么大的电流下芯片不可能不发热,所以这应该指的是设计值,而非实际测试值。
 楼主| 发表于 2013-12-25 09:38:27 | 显示全部楼层
回复 2# ygyg100


    这个的确是实测值,我问了做分立器件测试的人,他们说通过PULSE的方式来测试,所以发热很小,基本上可以忽略不计。比如1mS的周期,几十u的脉宽。
发表于 2013-12-25 09:53:02 | 显示全部楼层
本帖最后由 ygyg100 于 2013-12-25 09:54 编辑

原来是用脉冲的方式测试啊,又学到了。那这样就清楚了,发热可以忽略不计,就可以认为Tj和Ta是近似相等的。
但是我不明白这样的测试有何意义?芯片正常工作时是不可能满足这个条件的。
 楼主| 发表于 2013-12-25 11:52:53 | 显示全部楼层
回复 4# ygyg100


    意义在于屏蔽MOS管的发热,让Tj=Ta。随意调整Ta温度,即是Tj的温度,测试不同Tj下MOS管的导通电阻值。
发表于 2014-2-22 00:45:47 | 显示全部楼层
问得都好细哦
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