后仿和ATE

你懂程序吗 · 发表于 2024-4-19 15:49:14

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大佬们，后仿和ATE 对pattern 有什么不同的地方吗？后仿没问题，但是ATE 测试出来就是有问题。hard failed。

GG_amazing · 发表于 2024-4-19 16:40:30

哪一项的fail AC DC SCAN? MBIST？

你懂程序吗 · 发表于 2024-4-19 16:50:08

GG_amazing 发表于 2024-4-19 16:40
哪一项的fail AC DC SCAN? MBIST？

DC 的

wuruic · 发表于 2024-4-19 16:53:46

DC SCAN有问题就是制造有缺陷，没备份的话就没得修了

GG_amazing · 发表于 2024-4-19 16:58:53

你懂程序吗发表于 2024-4-19 16:50
DC 的

良率呢是所有的芯片都是一样的嘛？全部在DC Scan fail嘛？

你懂程序吗 · 发表于 2024-4-19 17:01:12

wuruic 发表于 2024-4-19 16:53
DC SCAN有问题就是制造有缺陷，没备份的话就没得修了

这个不是的，你们会测reg 的 reset pin吗

你懂程序吗 · 发表于 2024-4-19 17:02:53

GG_amazing 发表于 2024-4-19 16:58
良率呢是所有的芯片都是一样的嘛？全部在DC Scan fail嘛？

这个确实是分布一些hard failed,,都在DC

GG_amazing · 发表于 2024-4-19 17:06:09

如果有过的一般来说 dft pattern 应该就是没啥问题主要不知道你是啥工艺看下 Scan逻辑占比芯片的面积估下良率如果不是特别低的话应该是没问题。建议ate这边如果有几片的数据拉下数据看看有啥异常没有

你懂程序吗 · 发表于 2024-4-19 17:08:24

GG_amazing 发表于 2024-4-19 17:06
如果有过的一般来说 dft pattern 应该就是没啥问题主要不知道你是啥工艺看下 Scan逻辑占比芯片的面积 ...

问下，你们出的pattern 有测 reg reset pin 吗

GG_amazing · 发表于 2024-4-19 17:09:29

你懂程序吗发表于 2024-4-19 17:02
这个确实是分布一些hard failed,,都在DC

还有 ate 应该可以取fail log 吧可以看下所有hardfail 是否都是同一个cycle

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