DFT scan下TestMode的定义

andywang3791 · 发表于 2021-3-15 11:26:10

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请教两个问题关于scan下的TestMode定义：
1. set_DFT_signal -type TestMode,这里的TestMode特指scan mode，还是泛指所有test mode包括MBIST/BSD/Analog test等？
2. 我的chip有一个TEST_MODE的pad，泛指所有测试模式，其中scan/mbist/bsd/analog test靠另两个pad TEST_MODE_SEL来选，那么我的set_dft_signal -type TestMode该如何来定义

andywang3791 · 发表于 2021-3-15 13:24:21

greatao · 发表于 2021-3-15 19:52:15

1. test mode泛指所有test mode包括MBIST/BSD/Analog test等，scan_enable控制scan chain的shift和capture状态。

andywang3791 · 发表于 2021-3-16 22:51:34

greatao 发表于 2021-3-15 19:52
1. test mode泛指所有test mode包括MBIST/BSD/Analog test等，scan_enable控制scan chain的shift和capture ...

如果工具自动fix一些drc问题，会用到test_mode，但是这里如果是泛指所有测试模式，但我想只在scan下才去fix，scan下又是由TESTMODE pin和TESTMODE_SEL pins组合起来选择，而不单单指TESTMODE这一个pin

greatao · 发表于 2021-3-19 13:39:30

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