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查看: 2178|回复: 9

[求助] 求有关PLL测试开漏输出buffer的资料

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发表于 2021-2-23 00:57:28 | 显示全部楼层 |阅读模式
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      需要对几百MHz~三四GHz的时钟进行测试,据说一般都会用开漏输出的结构,请问是下图所示的结构吗?有关于该机构的资料吗?比如NMOS尺寸,电阻大小,需要考虑什么之类的。谢过了~



微信图片_20210223005648.jpg
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对,就是一个器件,里面是一个电感和电容,我们用的是BTN-0040型号的
发表于 2021-2-23 00:57:29 | 显示全部楼层


1261015620 发表于 2021-2-23 22:17
biasT指的是片外的nmos drain端负载,而且输出阻抗匹配到频谱仪的50Ω对吗?


对,就是一个器件,里面是一个电感和电容,我们用的是BTN-0040型号的

BTN-0040.pdf

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发表于 2021-2-23 11:16:12 | 显示全部楼层
open drain 在IC内部,输出和地之间只有个NMOS。当你想送high时,必须依靠外部电路的驱动能力,一般是一个上拉电阻,可以有很大的驱动能力,省了IC内的面积。


发表于 2021-2-23 15:42:25 | 显示全部楼层
NMOS再叠一个,gate接VDD。下拉能力小于10欧
外部100欧可以,也可以是电感,几nH到10nH。
后面再串1个电容隔直接频谱仪。
 楼主| 发表于 2021-2-23 18:09:55 | 显示全部楼层


kaikanertan 发表于 2021-2-23 11:16
open drain 在IC内部,输出和地之间只有个NMOS。当你想送high时,必须依靠外部电路的驱动能力,一般是一个 ...


也就是我在1楼放的图片的结构对吗?但我有个问题,如果片外接一个100欧的电阻到电源,那上拉的电阻就有100Ω,驱动一个10pF的电容好像有些吃力吧?估计只能测个几百兆的时钟了吧?
 楼主| 发表于 2021-2-23 18:12:30 | 显示全部楼层


jamesccp 发表于 2021-2-23 15:42
NMOS再叠一个,gate接VDD。下拉能力小于10欧
外部100欧可以,也可以是电感,几nH到10nH。
后面再串1个电容 ...




为啥要再串一个线性区的nmos呢?
如果外部接一个100Ω的电阻,上拉能力不会不足吗,假如需要驱动一个10pF的电容。
发表于 2021-2-23 21:23:57 | 显示全部楼层
我这边是开漏输出后直接接biasT,再到频谱仪
 楼主| 发表于 2021-2-23 22:17:16 | 显示全部楼层


胶地的游戏 发表于 2021-2-23 21:23
我这边是开漏输出后直接接biasT,再到频谱仪


biasT指的是片外的nmos drain端负载,而且输出阻抗匹配到频谱仪的50Ω对吗?
发表于 2021-2-24 09:51:35 | 显示全部楼层
我也很好奇,不过从另外一个角度,其实就是做一个输出功率不那么高的PA.
 楼主| 发表于 2021-2-26 19:54:51 | 显示全部楼层


胶地的游戏 发表于 2021-2-26 16:54
对,就是一个器件,里面是一个电感和电容,我们用的是BTN-0040型号的


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