在线咨询
eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
切换到宽版

EETOP 创芯网论坛 (原名:电子顶级开发网)

手机号码,快捷登录

手机号码,快捷登录

找回密码

  登录   注册  

快捷导航
搜帖子
查看: 1944|回复: 7

[资料] 大规模数字电路,混合信号,存储器测试的本质

[复制链接]
发表于 2016-9-12 23:10:19 | 显示全部楼层 |阅读模式

马上注册,结交更多好友,享用更多功能,让你轻松玩转社区。

您需要 登录 才可以下载或查看,没有账号?注册

x
ESSENTIAL of ELECTRONIC TESTING FOR DIGITAL,MEMORY AND MIXED_SIGNAL VLSL CIRCUITS这是一本揭示测试VLSL本质的好书
发表于 2016-9-14 11:20:57 | 显示全部楼层
回复 1# 1973


    thanks for sharing
发表于 2016-9-19 16:18:20 | 显示全部楼层
thanks for sharing
发表于 2016-10-28 13:48:40 | 显示全部楼层
多谢分享啊
发表于 2016-10-28 15:33:57 | 显示全部楼层
vRE: 大规模数字电路,混合信号,存储器测试的本质 [
发表于 2016-10-28 15:34:47 | 显示全部楼层
RE: 大规模数字电路,混合信号,存储器测试的本质 [
发表于 2016-10-28 15:35:28 | 显示全部楼层
RE: 大规模数字电路,混合信号,存储器测试的本质 [
发表于 2016-10-28 15:36:15 | 显示全部楼层
RE: 大规模数字电路,混合信号,存储器测试的本质 [
您需要登录后才可以回帖 登录 | 注册

本版积分规则

关闭

站长推荐 上一条 /2 下一条

小黑屋| 关于我们| 联系我们| 在线咨询| 隐私声明| EETOP 创芯网
( 京ICP备:10050787号 京公网安备:11010502037710 )

GMT+8, 2024-4-27 08:19 , Processed in 0.040227 second(s), 8 queries , Gzip On, Redis On.

eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
快速回复 返回顶部 返回列表