boundary scan 测试原理

fangwang85

请教一个问题，boundary scan是在封装pin和内部逻辑之间插入boundary scan cell。网上翻了些资料，还是没有明白测试原理是什么？
我自己的理解boundary scan 的测试流程是：将封装好的芯片，放在夹具中，通过夹具给每个pin脚赋值，
然后通过tap control来选通reg来capture 这些封装pin上的值，然后shift出来，最后比较这些值和封装夹具赋值，
来判断封装pin是否连接正常。不知道理解对不对
    小白，没有接触过。不腻赐教啊，谢谢

chengroc

你的理解是对了，IO的输入特性是这么测的
如果测输出，就反过来，把TDI的值shift到各个IO的OEN和I上，然后机台观测各个IO电平是否符合

fangwang85

回复 2# chengroc


   谢谢回复，受教了

jinfeier

fangwang85 发表于 2019-3-1 08:35
回复 2# chengroc

请教下楼主，如果是数模混合芯片，模拟是顶层，那么数字部分的dft测试也可做boundary scan逻辑吗？

ricardoe

jinfeier 发表于 2025-1-7 13:35
请教下楼主，如果是数模混合芯片，模拟是顶层，那么数字部分的dft测试也可做boundary scan逻辑吗？
...

把模拟的io设置成analog类型，生成boundary scan chain的时候工具会排除掉模拟io，剩下的处理testmode，jtag端口外是可以上boundary scan的

jinfeier

ricardoe 发表于 2025-1-15 15:17
把模拟的io设置成analog类型，生成boundary scan chain的时候工具会排除掉模拟io，剩下的处理testmode，j ...

把模拟io设置成analog类型？这个怎么设置呢，在DC中操作吗

ricardoe

jinfeier 发表于 2025-1-15 15:20
把模拟io设置成analog类型？这个怎么设置呢，在DC中操作吗

tessent工具可以通过 set_boundary_scan_port_option -cell_options analog GPIO0 来实现，dc里面怎么操作我就不清楚了