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[讨论] 通用芯片测试系统的开发

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发表于 2016-8-14 17:10:09 | 显示全部楼层 |阅读模式

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最近在接手一个项目,是给一家小公司开发芯片测试系统,先前的dos系统下单一功能的测试系统需要换代了。了解到论坛好多牛人,前来与大师们讨论,废话不多说。
首先我们要完成测试芯片的封装主要是DIP,sop的,模拟、数字以及混合的都可能测试;
听说现在市场上可以买到成品的测试仪,就是不到上位机界面的,其他的硬件平台都已经搭建好的那种,但是没有找到。



我本人是一个二年级的研究生,也是本着学习的心态,大家讨论起来吧。
 楼主| 发表于 2016-8-14 18:35:01 | 显示全部楼层
怎么没人呢?
 楼主| 发表于 2016-8-14 21:04:21 | 显示全部楼层
大神在哪呢?
发表于 2016-8-17 07:08:45 | 显示全部楼层
回复 1# 齐鲁小痞子


   这个坛子里验证的人比较多吧,你这个是芯片的板级测试,不属于验证的范畴,所以没什么人回答。测试也分功能和DFT的扫描,不知道你要测哪个,如果是要测功能的,还得看是啥功能,你没有说明是什么样功能的芯片,没人知道你要测试什么,有时就是知道功能,没搞过的话都无法回答这个的问题,何况不知道功能了。要是测dft的,可以找找ATE厂商。
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