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[原创] 为什么我的adc用内部基准的时候开始几个转换周期输出码偏低呢?

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发表于 2016-4-11 16:13:54 | 显示全部楼层 |阅读模式
100资产
测试的时候,saradc用内部基准的时候开始几个转换周期输出码偏低,经过10个周期后才稳定下来;用外部参考电压时候正常,可能是什么原因呢?
QQ截圖20160411161701.png
QQ截圖20160411161719.png

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用内部buffer来驱动DAC电容,是不是要留出来一个clk,来保证在量化之前将电容下级板充电到参考电压,然后再进行量化
发表于 2016-4-11 16:13:55 | 显示全部楼层
用内部buffer来驱动DAC电容,是不是要留出来一个clk,来保证在量化之前将电容下级板充电到参考电压,然后再进行量化
发表于 2016-4-11 18:45:40 | 显示全部楼层
若是內部ADC使用運放推SAR電容,
可能是運放推力(driving ability)不足!
若是使用電阻推電容,
電組值不夠小! Settling time too long!
 楼主| 发表于 2016-4-12 09:28:52 | 显示全部楼层
本帖最后由 typhoon222 于 2016-4-12 10:00 编辑



運放推SAR電容什么意思~SAR電容是指DAC的电容?
发表于 2016-4-12 13:29:00 | 显示全部楼层
SAR ADC 裡面的DAC 是用電容方式來達成的,
SAR ADC 裡面的電容 先sample Input 訊號 (Vin),
再 sample 到參考電壓 (Vref),
內部參考電壓電路就不知道您怎麼設計了?
因為參考電壓推力不是無窮大(非理想電壓源),
所以會有settling time 的問題?
您用外部參考電壓,推力就是無窮大,就沒有settling time 的問題?

所以您可能要把如何產生參考電壓的電路貼上來.
才能確定問提所在?
 楼主| 发表于 2016-4-12 19:33:11 | 显示全部楼层


SAR ADC 裡面的DAC 是用電容方式來達成的,
SAR ADC 裡面的電容 先sample Input 訊號 (Vin),
再 sample 到 ...
billlin 发表于 2016-4-12 13:29


QQ截圖20160412193555.png
ADC内部参考电压经过12个转换周期的时间,稳定到2.5V,跟测试输出码偏低的时间长度差不多;不过仿真的输出码没有偏低这么长时间~
发表于 2016-4-13 10:45:28 | 显示全部楼层
請教您的上圖是實際量測得到的圖還是仿真的圖?
V(OUT1) 的電壓是1000V 左右?
是否有Power ON reset Signal ?
 楼主| 发表于 2016-4-13 11:17:26 | 显示全部楼层


請教您的上圖是實際量測得到的圖還是仿真的圖?
V(OUT1) 的電壓是1000V 左右?
是否有Power ON reset Signa ...
billlin 发表于 2016-4-13 10:45


仿真的图,1023不是电压,是code,CLK1是时钟,ckend是一次转换完成,vref是上电启动后的vref;Power ON reset Signal AD里没有~
发表于 2016-4-13 15:23:18 | 显示全部楼层
好奇位甚麼您的VT(/Vref)在 10uS 之後才開始充電上來?
 楼主| 发表于 2016-4-13 15:55:37 | 显示全部楼层


好奇位甚麼您的VT(/Vref)在 10uS 之後才開始充電上來?
billlin 发表于 2016-4-13 15:23



不是 VDD从10us开始上电的~
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