请问在Testkompress中该怎样减少UO (unobserved) fault呢？

qwertyuop

兄弟刚接触DFT，现在用Testkompress对一个RTL进行insert scan chain -> EDT -> ATPG。
结果ATPG那一步生成的log中，某个子模块的UO (unobserved)、AU (ATPG untestable)这两种fault特别多，导致其test coverage不够高。

下载了几篇觉得相关的datasheet，但看了之后还是感觉找不到方向。
只好请教大哥们：UO和AU这些fault一般是什么导致的呢？我该怎样修改RTL来减少UO和AU fault呢？

或，哪篇文档最有针对性地介绍了这类fault呢？（也可能是我找的文档不对）


十分感谢！

empty_085

回复 1# qwertyuop


    UO就是没有办法观测，即这个点的值没有办法传到一个可以观测的寄存器，建议在这个点增加一个观测寄存器，将寄存器插入scan chain即可。至于AU，atpg_untest，是工具没有办法生成pattern，它还分之类，具体什么原因需要一一去分析。

qwertyuop

回复 2# empty_085


啊，是这样，谢谢兄台！那我试着去修改一下。
谢谢谢谢！

qwertyuop

回复 2# empty_085

兄台您好！还想继续请教一下。
后来在atpg_gd里看到一段说：通过set_abort_limit设定一个更高的abort limit，可以降低UO fault
实际试了一下，的确可以（只是降的不多）
请问这是什么原因呢？
在tshell_ref里看set_abort_limit的解释，发现也没有很具体地解释原因……

谢谢！


而且我觉得set_abort_limit是个指标不治本的办法
我还是倾向于通过修改RTL，来从根本上减少UO fault

qijunone

without design changes
1 increase abort limit --- reduce ND fault
2 enable fast sequential and full sequential -- reduce AU fault
3 create Tetra memory models
4 自己想
5 自己想

with design changes
1 fix DRC violations
2 add test points
3 add scan to non scan cell

qwertyuop

啊，谢谢楼上兄台！
我认真学习一下。