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查看: 7125|回复: 18

[求助] 衬偏效应对折叠共源共栅放大器直流增益的影响

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发表于 2014-6-19 11:56:18 | 显示全部楼层 |阅读模式

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我在仿真一个PMOS输入对管的折叠共源共栅结构运放的直流增益时,发现NMOS共栅管体电位的接法会显著影响运放的增益(相差十倍)。
但是按照我的推论,运放的增益等于输入管的跨导gm乘以输出阻抗Rout,输入管的跨导不会变化,而输出阻抗Rout按照拉扎维(西交翻译版)书上71页的推导也不会有很大的变化,Rout=[1+(gm2+gmb2)*ro2]*ro1+ro2。衬偏效应会影响MOS本身的跨导,我看了管子的工作状态,在有衬偏效应时gm+gmb,与没有衬偏效应是的gm基本相等。按照我上面的考虑,应该对直流增益不会有很大的影响。
我的问题:
1.我上面的推导做了很多的简化,是不是有什么重要的因素我没考虑到,才造成推论和仿真结果不一致?
2.Cadence仿真中看管子的工作状态时,gds和ron这两个参数什么关系?
先感谢各位的关注!
发表于 2014-6-19 13:55:17 | 显示全部楼层
结论很不合理啊,应该基本没有影响才对
检查dc operating point是否正确?
opamp 是open loop simulation 还是close loop simulation?
发表于 2014-6-19 14:06:58 | 显示全部楼层
本帖最后由 semico_ljj 于 2014-6-19 14:12 编辑

基本没有影响。<=10%
 楼主| 发表于 2014-6-19 14:30:02 | 显示全部楼层
回复 2# fuyibin

仿真是闭环仿真,我再检查一下直流工作点是否正确多谢回复
 楼主| 发表于 2014-6-19 14:31:13 | 显示全部楼层
回复 3# semico_ljj

多谢回复如果应该没什么影响的话,有可能是我的工作点设置有问题,我再检查一下
发表于 2014-6-19 17:18:48 | 显示全部楼层
如果MN4管子的Vds很大,有可能导致sub有漏电,增益会减小很多。
接成自阱会有所改善吧
发表于 2014-6-20 05:40:04 | 显示全部楼层
your cascode is in linear...
发表于 2014-6-20 05:40:52 | 显示全部楼层
check gds
发表于 2014-6-20 08:10:00 | 显示全部楼层
影响主要是由于Vth变化吧 因为 VBS 不再是0了 这样的话 你的上面的NMOS的 VGS-Vth 就变化比较大 直流偏置点不一样了 是有可能增益变化很大的
建议LZ检查下直流偏置点
发表于 2014-6-20 08:47:17 | 显示全部楼层
wkfr正解
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