ADC 测试值不一样

tayo134 · 发表于 2012-9-6 10:06:30

本帖最后由 tayo134 于 2012-9-6 10:10 编辑

不知道你电路的具体结构，一般来讲是增加尺寸，MOS管的话增加vdsat的效果也很不错。另外，版图布局也很重要。
不过，具体电路具体分析。你得看你的mismatch主要是在哪里产生的，是在sensor中产生的还是只是ADC产生的。像ADC中的mismatch产生的DC offset是可以使用电路结构消除的，而由ADC的Verf产生的gain offset就只能校准或者采用外部ref来消除，要不然只能减小mismatch来减小gain offset。个人觉得，温度的sensor，如果需要有精确的温度的话只能校准。而且芯片量产的时候还会有process的影响，与mismatch差不多，只是一个是相对于晶体管，一个是相对于wafer

DruculaC · 发表于 2012-9-6 16:06:57

回复 11# tayo134

我分析可能是sensor的vref偏差造成的，所以现在的方案是用内部eeprom做初始化修调，在中测的或者成测的时候来校准。
多谢～～

xwj623 · 发表于 2012-9-6 16:15:21

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