【求论文】求两篇IEEE上的关于TLP 测试high voltage mos 的论文，谢谢了！

analogmind · 发表于 2012-7-10 10:56:36

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本帖最后由 analogmind 于 2012-7-10 15:57 编辑

"A TLP-based characterization method for transient gate biasing of MOS devices in high-voltage technologies "

http://ieeexplore.ieee.org/xpl/articleDetails.jsp?tp=&arnumber=5623738&contentType=Conference+Publications&queryText%3Dyiqun+cao

"ESD protection considerations in advanced high-voltage technologies for automotive"

http://ieeexplore.ieee.org/xpl/login.jsp?tp=&arnumber=5256803&url=http%3A%2F%2Fieeexplore.ieee.org%2Fxpls%2Fabs_all.jsp%3Farnumber%3D5256803

又来麻烦坛子上的兄弟了，跪谢！！

analogmind · 发表于 2012-7-10 12:57:25

求各路神仙，各种求。。。

CMOS3511 · 发表于 2012-7-10 16:27:04

回复 1# analogmind

abbr_73b9f5afbb81b9dba4f46dd38256c9ba.pdf (814.75 KB , 下载次数: 16 )

ESD protection considerations in advanced high-voltage technologies for automotive.pdf (539.98 KB , 下载次数: 18 )

CMOS3511 · 发表于 2012-7-10 16:30:34

回复 1# analogmind

A TLP-based characterization method for transient gate biasing of MOS devices.pdf (814.75 KB , 下载次数: 46 )

ESD protection considerations in advanced high-voltage technologies for automotive.pdf (539.98 KB , 下载次数: 39 )

analogmind · 发表于 2012-7-10 17:03:03

回复 analogmind
CMOS3511 发表于 2012-7-10 16:30

登录/注册后可看大图

多谢兄弟！

CMOS3511 · 发表于 2012-7-10 23:39:40

回复 5# analogmind

客气客气~

pingdandan · 发表于 2012-10-13 13:07:16

非常感谢

alan194 · 发表于 2012-12-22 15:21:41

我也收了

521lkh · 发表于 2020-7-7 12:55:00

多谢

andy228 · 发表于 2020-10-27 15:35:56

多谢了，就是有点费币

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