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Reliability Test Introduction

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发表于 2009-4-20 18:27:48 | 显示全部楼层 |阅读模式

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Reliability Test Introduction ~
* Why we’re doing reliability test?
* Reliability Test Classification
- Wafer Level
- Product Level
* Reliability Test specification
* Reliability Test Flow
* Reliability Failure Mechanism
* Procedure for Reliability improvement  through FA

............................................



IC_ReliabilityTest_Introduction.rar

1.1 MB, 下载次数: 582 , 下载积分: 资产 -2 信元, 下载支出 2 信元

发表于 2009-7-10 02:35:54 | 显示全部楼层
thanks for your information..........................
thanks..........................................................
发表于 2009-8-9 20:33:22 | 显示全部楼层
thanks for your sharing
发表于 2009-8-9 21:24:54 | 显示全部楼层
感谢分享哦
发表于 2009-8-9 22:45:05 | 显示全部楼层
强烈支持楼主~~~
发表于 2009-8-30 21:12:20 | 显示全部楼层
thanksthanksthanks
发表于 2009-9-12 17:26:48 | 显示全部楼层

谢谢

谢谢谢谢谢谢谢谢谢谢谢谢谢谢谢谢谢谢谢谢谢谢谢谢谢谢谢谢谢谢谢谢谢谢谢谢谢谢谢谢谢谢谢谢谢谢
发表于 2009-9-22 19:57:06 | 显示全部楼层
谢谢,
发表于 2010-2-7 12:53:53 | 显示全部楼层
Thanks for sharing, keep up the good work.
发表于 2010-2-7 19:56:06 | 显示全部楼层
谢谢,太有用了
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