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发表于 2009-3-31 11:54:29
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以 run pattern 方式測 open/short 的原理如下 : 1. 利用 tester pin electronics 的 dynamic load 來 force current, (VOH / VOH / VIL / IOL 設定如圖) 當 pinA 還未 connect to tester 時, Vout = Vref, 一旦 connect to tester 後, 200uA@2V 的電源 讓 IC diode 導通, Vout = 0.65V, 所以 pattern 為 compare "Z" 2. 假如 IC open, Vout=Vref, Vout=2V > VOH=1.2V, run pattern 時會 fail 3. 假如 IC short, Vout=0V (short 到其他 pin, 其他 pin voltage=0V), Vout=0V < VOH=0.2V, run pattern 時也會 fail
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