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Open-short-test 图解

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发表于 2009-2-22 12:57:27 | 显示全部楼层 |阅读模式

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从书中摘录的,希望能对新人有所启发和帮助。

OPEN_SHORT_TEST.zip

237.38 KB, 下载次数: 448 , 下载积分: 资产 -2 信元, 下载支出 2 信元

发表于 2009-3-26 13:28:18 | 显示全部楼层

看看····

我来看看先
发表于 2009-3-28 14:07:11 | 显示全部楼层
感謝大大無私的分享,感恩啦!!!
发表于 2009-3-29 10:56:07 | 显示全部楼层
应该算是开/短路测试吧
发表于 2009-3-31 11:54:29 | 显示全部楼层
以 run pattern 方式測 open/short 的原理如下 : 1. 利用 tester pin electronics 的 dynamic load 來 force current, (VOH / VOH / VIL / IOL 設定如圖) 當 pinA 還未 connect to tester 時, Vout = Vref, 一旦 connect to tester 後, 200uA@2V 的電源 讓 IC diode 導通, Vout = 0.65V, 所以 pattern 為 compare "Z" 2. 假如 IC open, Vout=Vref, Vout=2V > VOH=1.2V, run pattern 時會 fail 3. 假如 IC short, Vout=0V (short 到其他 pin, 其他 pin voltage=0V), Vout=0V < VOH=0.2V, run pattern 時也會 fail

 楼主| 发表于 2009-4-6 10:55:24 | 显示全部楼层

好清晰



原帖由 yangbc01 于 2009-3-31 11:54 发表
以 run pattern 方式測 open/short 的原理如下 : 1. 利用 tester pin electronics 的 dynamic load 來 force current, (VOH / VOH / VIL / IOL 設定如圖) 當 pinA 還未 connect to tester 時, Vout = Vref, 一旦 con ...



很清晰!
发表于 2009-7-11 01:59:13 | 显示全部楼层
thanks for your information..........................
thanks..........................................................
 楼主| 发表于 2009-7-13 12:42:38 | 显示全部楼层

好东西

顶!
发表于 2009-7-13 19:51:24 | 显示全部楼层
我来看看先
发表于 2009-7-13 20:05:18 | 显示全部楼层
看看  谢谢楼主
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