【益莱储】相位噪声测试

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什么是相位噪声？知乎网友[徐如我]给出一个简单的图来表示。

                              

每个电子电路中都存在噪声，它会干扰从发射机发送到接收机的信号。由于这些干扰可能会限制无线系统的总体性能，因此，噪声是所有发射机和接收机元器件中必须要测试的基本参数。为了确保取得有意义的结果，测量使用的信号分析仪在性能上必须优于所表征的器件。随着这些测量变得日益复杂，信号分析仪也在不断演进，能够支持简单易用的测量应用软件，这有助于降低测量的复杂性，同时让用户相信测量结果是准确的。

高速半导体技术（例如，RF-CMOS、GaN 和 SiGe）的发展正在将应用频率上限推得越来越高，一直达到微波和毫米波范围。随着新型商业市场应用的要求（例如，汽车雷达、超宽带通信链路和无线 LAN/PAN，以及传统的航空航天和国防应用）变得更为严格，描述信号源的相位噪声特征比过去变得更为重要。同时，在尽可能多地测试微波信号源的参数时，希望有一种简单且具有成本效益的方法来评估相位噪声。

益莱储提供来自是德科技和罗德与施瓦茨的相位噪声测试产品，如下供参考。

是德科技提供专用相位噪声测试解决方案，简化测量并最大限度提高效率。以30多年低相位噪声和射频设计与测量经验为后盾，其解决方案提供最精准的相位噪声数据，并可以始终的价格为客户量身定做，满足现在和未来对性能和应用的特殊需求。

£  是德科技

Ÿ   X系列信号分析仪（N9000B / 10B / 20B / 30B / 40B）+ N9068EM0E X系列测量应用，实现一键式操作的便捷体验，并确保在分析仪的完整频率范围内获得精准的结果；

Ÿ   E5052B SSA信号源分析仪+E5053A微波下变频器，两个外部谐波混频器和一个功率分配器，连同 E5052B 中所配备的毫米波软件应用程序，将提供低相位噪声测量功能；

Ÿ   N5511A相位噪声测试系统，可测量低至kT（室温下为-177 dBm / Hz）的相位噪声的测试系统的基础。

罗德与施瓦茨R&SFSWP 相位噪声分析仪和 VCO 测试仪将噪声极低的内部源与互相关技术相结合，为相位噪声测量提供了极高的灵敏度。

£  罗德与施瓦茨

Ÿ   FSV系列信号分析仪（7、30、40GHz）带有选件FSV-K40相位噪声测量应用程序，为各种应用提供中级性能；

Ÿ   FSW系列信号分析仪（26.5、50、67GHz），带有选件FSW-K40相位噪声测量应用程序，提供无与伦比的相位噪声，非常适合测量雷达和通信应用的振荡器，在10kHz偏移处实现–137 dBc（1Hz）的相位噪声。

Ÿ   FSWP26 R＆S®FSWP相位噪声分析仪和VCO测试仪结合了极低噪声的内部信号源和互相关技术，为相位噪声测量提供了极高的灵敏度。

Ÿ   FSWP50 R＆S®FSWP相位噪声分析仪和VCO测试仪结合了极低噪声的内部信号源和互相关技术，为相位噪声测量提供了极高的灵敏度。