全新的红外焦平面阵列非均匀性校正技术L2C及其生产工艺整合

thx1234 · 发表于 2015-12-23 16:12:20

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本帖最后由 thx1234 于 2015-12-23 19:51 编辑

热成像传感器L2C非均匀性校正技术优势

与传统多段校正技术对比

红外焦平面的加工工艺精度问题造成了感应单元之间的差异，实际表现为针对相同的热目标，不同的感应单元响应值不同，解决这个问题的方法称为“非均匀性校正”技术。非均匀性校正是红外热成像设备成像和测温这两大基本功能的技术基础，直接决定了成像质量和测温精度。

传统的非均匀性校正技术有三类：

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一点校正法

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两点校正法及其变种

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基于场景的校正技术

本文提出的两种校正法

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两点一线校正法

2
一线校正法

联系方式：
QQ: 1679669549

成像与测温功能演示视频：http://pan.baidu.com/s/1skwhIHJ

技术介绍：
http://pan.baidu.com/s/1nubXhkH

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